中古 JEOL JSM 6600 #9122948 を販売中

JEOL JSM 6600は、スキャン電子顕微鏡（SEM）で、様々な材料のナノ光学的・顕微鏡的構造を調べるために使用される先進的な分析装置です。肉眼で観察するには通常は小さすぎる構造を可視化・解析し、生成する信号によって提供される様々な物性を識別・測定することができる、非常に成功した信頼性の高い機器です。JEOL JSM-6600は、エネルギー分散型X線検出器（EDX）を利用した超高解像度SEMで構成情報と単色系を提供し、サンプルの化学コントラストと地形の情報を提供します。SEMの非常に洗練された設計はまたそれが0.15nAへの10nAの高い感受性を提供し、粒子の最も小さいの優秀な検出を提供することを保障します。SEMの性能は130mmから200mmの広い作動距離によってさらに向上し、ウェーハやかさばる部品などの大型サンプルや、直径400mmまでの試料ステージを観察することができます。このSEMの解像度は非常に優れており、倍率が高いため350000X試料中の極めて微細なディテールを観察することができ、二次電子検出器によって非常に詳細な画像を得ることができます。また、加速電圧範囲が1〜30kVの広いため、さまざまな材料や実験を行うことができます。JSM 6600には、安全ドアインターロックスイッチや、サンプルへの分子の充電と凝縮を低減するイオンガードグリッドシステムなど、機器やオペレータの損傷を防ぐためのさまざまな安全機能も含まれています。SEM用ソフトウェアはユーザーフレンドリーで、USBポートを介してデータを簡単に転送できます。結論として、JSM-6600は表面構造の非常に詳細な画像を提供する非常に精密な機器であり、材料科学、マイクロエレクトロニクス、生物医学研究などの分野のナノスケール研究に最適です。高倍率、解像度、電源、安全機能により、多くの研究者の要求に応え、正確で信頼性の高い結果とデータを提供します。