中古 JEOL JSM 6600 #293824665 を販売中
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ID: 293824665
Scanning Electron Microscope (SEM)
IdFix Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy (EDX) system
X-Ray detector
Convent image processing system
Lens system:
Condenser lens
Objective lens
Operating mode:
SEM1
ECP
EMP
PSCN
Specimen movement range:
Direction (X, Y, Z):
X: 160 mm
Y: 160 mm
Z: 31 mm
Tilt: 0° to 60°
Rotation: 360°
Scan mode:
Pic
RD2
RD4
RDC
LSP
BUP
SPT
Power supply: 240 / 220 / 200 / 180 V, 50 / 60 Hz single phase, 6 kW.
JEOL JSM 6600は、優れた性能、優れた使いやすさ、および微細構造の観察から高度な分析能力までのアプリケーションのための優れた柔軟性を提供するために特別に設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。JEOL JSM-6600にはコールドフィールドエミッションガン(FEG)を搭載し、バックグラウンドノイズの少ない高解像度画像を提供します。これにより、優れた画像コントラストと画質で材料を詳細に分析することができます。JSM 6600はまた、高速デジタル信号プロセッサ(DSP)を備えており、データ収集と画像処理が可能であり、画像取得と画像操作の高速化を可能にします。また、JSM-6600には優れたイメージングシステムがあり、セカンダリモードとバックスキャッターエレクトロンモードの両方で、オプションの充電結合デバイスイメージングを搭載しています。これにより、広範囲の倍率機能を備えた高精細画像を提供します。イメージングシステムには、コントラスト強化技術のバリエーションも含まれており、優れたコントラストと画像の鮮明さを実現します。JEOL JSM 6600は、エネルギー分散型X線分光法(EDS)、波長分散型X線分光法(WDS)など、元素分析や化学分析のための幅広い分析機能を備えています。これらの機能により、材料の精密要素および化学分析およびマッピングが可能になります。JEOL JSM-6600には、標準試料ホルダー、cryo-ホルダー、液体窒素など、さまざまな試料操作技術をさまざまなアプリケーションに提供するさまざまなサンプルホルダーを装備することもできます。JSM 6600は、材料分析および微細構造観察のための技術的に高度で信頼性の高い汎用性の高いツールです。このSEMは優れた性能、使いやすさ、柔軟性を提供し、さまざまな業界のさまざまなアプリケーションに最適です。
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