中古 JEOL JSM 6510LV #293748028 を販売中
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ID: 293748028
ヴィンテージ: 2009
Scanning Electron Microscope (SEM)
No EDS
LCD Monitor, 9"
Filament
Standard recipe: Built-In
Electron gun
Zoom condenser lens
Conical objective lens
Lens aperture: (3) Stages with XY
Digital zoom
Dual magnification
Pseudo color
Electrical shift: ±50 µm
Filament: W-Hairpin
Angle rotation: 360°
Resolution:
High volume: 3 nm (30 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
Low volume: 4 nm (30 kV)
PC
Operating system: Windows Vista
Power supply: 0.5 kV-30 kV
2009 vintage.
JEOL JSM 6510LVは、様々な生物材料や非生物物質を観察するために科学者が使用するハイエンドの走査型電子顕微鏡です。光の代わりに電子のビームを使用して、高解像度と被写界深度の画像を形成します。JSM 6510LVは、高加速電圧での動作に最適化されたLaB6電子源を備えています。二次電子、一次電子、後方散乱電子、非反応側散乱イメージングなど、さまざまなイメージングモードを提供しています。高解像度の画像は、最大倍率200,000xでキャプチャされます。さらに、JEOL JSM 6510LVは、3Dトモグラフィー画像と同様に、平面内および平面外の傾き画像をキャプチャすることができます。JSM 6510LVは高度に自動化されており、ユーザーは設定を調整することなく画像を効率的にキャプチャできます。高度な画像取得ソフトウェア、FEG-AQUAは、結果の画像データの分析と解釈を簡素化します。この顕微鏡には高感度カメラが搭載されており、ユーザーは画像を高い精度でキャプチャすることができます。JEOL JSM 6510LVのユニークな特徴は、真空状態で画像をキャプチャすることで、他の画像技術によって破壊されるサンプルの調査を可能にすることです。この高度な画像処理により、光顕微鏡では見えない非常に小さな形態学的特徴を検出することができます。JSM 6510LVは、科学研究のためのバランスの取れた機器であり、法医学、材料科学、電子工学および故障解析、半導体製造、ナノテクノロジーなどの幅広い用途に使用できます。これは、製品とプロセスを改善しようとするメーカーにとって不可欠です。
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