中古 JEOL JSM 6510LV #293671225 を販売中
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販売された
ID: 293671225
ヴィンテージ: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Does not include EDS
2010 vintage.
JEOL JSM 6510LVは、強力なイメージングおよび解析機能をサポートする世界クラスの走査型電子顕微鏡(SEM)です。エネルギー分散分光法(EDS)装置を使用して、イメージングおよびマイクロアナリティクス測定において優れた性能を提供します。このシステムは、高真空モードと低真空モードの両方で高解像度の画像を提供します。この顕微鏡には、5 × 10-6 Torrよりも高いレベルに達することができる超高真空チャンバーが装備されています。このレベルの真空は、高真空モードを使用すると、コントラスト解像度と画像の詳細が大幅に向上します。低真空モードは、環境に優しい中性ガスを使用してビーム電流を低減します。EDSユニットは、最大8mmのラップマウントサーチコイルで構成されています。1ピクセルに対して0。02%の絶対値まで超高解像度で測定できます。JSM 6510LVは、高度な可変圧イメージングマシンを備えています。この機能により、スキャン圧力を5。10-3 Torrまで最適なイメージングに自動的に調整できます。この顕微鏡はまた、高解像度のバックスキャッタ検出器(BSD)を使用して、Zコントラストの高いサンプルを正確に測定します。BSDは、ノイズレベルを低減することで高品質の画像を生成する4要素のホウ素酸化フィルターを使用しています。さらに、PAIS (Patterned Analysis and Imaging Tool)は、分類パターンの適用を通じて、最先端のイメージングとマイクロアナリシスを提供します。JEOL JSM 6510LVもメンテナンスコストを最小限に抑えるように設計されています。材料を節約するOリングアセットを採用し、汚れを防ぎ、頻繁な洗浄の必要性を低減します。統合されたECS (Environmental Control Model)は、最適な性能を得るために最適な条件で顕微鏡を動作させることを保証します。コンピュータ制御の冷却装置は騒音レベルを維持し、振動と温度制御の低レベルを可能にします。最後に、内蔵のデータベースサーバーは、簡単にアクセスできるように顕微鏡の設定とパラメータを管理するのに役立ちます。全体として、JSM 6510LVは高真空モードと低真空モードの両方で優れた結果をもたらす高度なSEMです。明瞭で詳細な画像を必要とする研究者や、高解像度のマイクロアナリティカル測定に適しています。さらに、メンテナンスフレンドリーな設計は、最適なパフォーマンスを確保しながらコストを削減するのに役立ちます。
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