中古 JEOL JSM 6510LV #293630488 を販売中

JEOL JSM 6510LV Scanning Electron Microscope （SEM）は、サブミクロンスケールの対象物のイメージングおよび分析に使用される特殊顕微鏡です。この装置は試料を実際の500000倍まで拡大することができ、複雑な構造を明らかにし、非常に小さな物体の測定に最適です。この顕微鏡は、潜在的な変化を検出して表示する機能も備えており、材料分析を非常に高解像度で行うことができます。JSM 6510LVには、可変圧力モードと低真空モードの両方のために設計された電子カラムがあり、真空ゲージによって測定されます。電子ビームは5種類の電圧設定に最適化されています。JEOL SEMは、高解像度デジタルカメラを使用して、デジタル形式で画像をキャプチャし、保存します。高解像度のモニターとタッチスクリーンコンソールにより、ユーザーは機器と対話し、操作設定を微調整し、保存された画像に素早くアクセスできます。製造メーカーは、低真空モードと高真空モードの両方に対応するJEOL JSM 6510LVを設計しました。これは、大気ガスからの汚染を心配することなく、環境サンプルと生物サンプルの両方を分析できることを意味します。この顕微鏡にはEDX検出器もあり、試料の元素分析が可能です。この装置は、逆散乱した電子、送信された電子、および二次電子を含む検出器の範囲を適用することができ、異なる構造の詳細を明らかにし、様々な分析情報を提供するために使用することができます。JEOL Scanning Electron Microscopeは、インコラム・オートフォーカス・システムと高性能スタビライザーにより優れた画像解像度を提供し、非常に詳細で明確な画像を提供します。さらに、SEMEBSD解析、SEET解析、SED測定などの高度なイメージング技術を利用して、実験から最も有用な結果を得ることができます。JEOL SEMは、コンピュータ制御の試験片とステージシステムを備えており、試験片の自動表示と分析が可能です。全体として、JSM 6510LV Scanning Electron Microscopeは、ナノメートルスケールまで構造の詳細を明らかにすることができる非常に汎用性の高い機器です。潜在的な情報と分析技術を提供する能力は、多くの研究アプリケーションにとって非常に貴重なツールです。また、ユーザーフレンドリーなインターフェース、高解像度イメージング、安定した操作により、簡単で正確な操作が可能です。