中古 JEOL JSM 6510 #9401508 を販売中

JEOL JSM 6510
製造業者
JEOL
モデル
JSM 6510
ID: 9401508
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6510は、材料の組成と構造を非常に高解像度で研究するために使用される走査型電子顕微鏡(SEM)です。この種の顕微鏡は、サンプルの表面の画像を非常に高い倍率で生成するために使用されます。この装置は、非常に小さなスポットに焦点を当てた電子ビームと、サンプルが散乱した電子の量を測定する検出器を利用しています。JSM 6510は、市場で市販されている他のどのSEMよりも高い解像度である最大0。8ナノメートル、または8オーングストロームの解像度のサンプルの画像を生成することができます。この機器はまた、高い安定性と低ノイズ機能を備えています。それは分析のためにサンプルからの信号だけが集められることを保障するのを助ける低い迷路の電気および磁界を備えています。JEOL JSM 6510は、故障解析、プロセスおよび製品開発、品質管理、研究開発などのアプリケーションに最適な機器です。xyスキャン速度は毎秒最大50万ピクセルで、フルフレームレートは毎秒3,000フレームです。これにより、高速で高解像度のデータ収集に理想的な機器となります。JSM 6510は電子光学を制御し、データを分析することを可能にする高度なソフトウェアパッケージを備えています。ソフトウェアには画像処理システムがあり、画像のコントラストと明るさを調整するだけでなく、正確な画像配置を確保するためのアライメントシステムもあります。最後に、JEOL JSM 6510は、幅広い分析を可能にし、サンプルの安全な環境を確保する堅牢な真空チャンバーを備えています。真空は窒素パージされ、チャンバーにはコールドトラップと差動ポンピングシステムが装備され、サンプルの係数を電子的に安定させます。研究開発、プロセス制御、品質保証のために強力な走査型電子顕微鏡を必要とするかどうかにかかわらず、JSM 6510は仕事のための完全な器械です。高解像度、堅牢な真空チャンバー、高度なソフトウェアパッケージにより、作業を迅速かつ正確に行うために必要な性能を提供します。
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