中古 JEOL JSM 6510 #9197947 を販売中
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販売された
ID: 9197947
Scanning electron microscope (SEM)
With OXFORD Inca EDS
Resolution HV mode: 3.0 nm (30 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
LV Mode: 4.0 nm (30 kV)
Magnification: x 5 to x 300,000 (on 128 mm x 96 mm image size)
5-Step preset magnification
Standard recipe
Custom recipe:
Operation conditions:
Optics
LV Pressure
Specimen stage
Image mode:
Secondary electron image
REF Image
Composition
Topography
Shadowed
Filament: Factory pre-centered filament
Electron gun: Fully automated, manual override
Condenser lens: Zoom condenser lens
Objective lens: Super conical objective lens
Objective lens apertures: (3) Stages, XY fine adjustable
Stigmator memory
Electrical image: Shift ± 50 μm (WD = 10 mm)
Auto functions:
Focus
brightness
contrast
stigmator
Specimen stage: Eucentric large-specimen stage
X: 80 mm, Y: 40 mm, Z: 5 mm to 48 mm,
Tilt: −10° to 90°
Rotation: 360°
Specimen exchange: Draw out the stage
Maximum specimen: 150 mm Diameter
PC: IBM PC/AT Compatible
Operating system: Windows 7
Monitor: 19" LCD, 1 or 2*2
Frame store: 640 x 480, 1,280 x 960, 2,560 x 1,920, 5,120 x 3,340
Dual live image
Full size image display
Pseudo color
Multi image display: (2) Images, (4) Images
Digital zoom
Dual magnification
Network: Ethernet
Measurement
Image format: BMP, TIFF, JPEG
Auto image archiving
Pumping system: Fully automated, DP: 1, RP: 1 or 2*1
Switching vacuum mode: Through the menu
LV Pressure: 10 to 270 Pa
JED-2300 EDS*2
Principal options:
Back scattered electron detector
Low vacuum secondary electron detector
Energy dispersive X-ray analyzer (EDS)
Wave length dispersive X-ray analyzer (WDS)
EBSD
Stage navigation system
Airlock chamber
Chamber scope
Operation keyboard
LaB6 Electron gun
Operation console: 750 mm wide, 900 mm wide
Motor controlled stage: 2 Axes, 3 Axes, 5 Axes
Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV
Currently installed.
JEOL JSM 6510は、研究および産業用途向けに設計された高解像度走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置には、低電圧スキャンと高電圧スキャンの両方で4。5ナノメートルの解像度で画像を生成するための高性能電子ソースが装備されています。また、二次および後方散乱電子を捕捉するための反転および明るい電界検出器が含まれており、高解像度の3D画像を生成できます。JSM 6510は、2次元および3次元の画像処理、結晶構造の解析、ラインプロファイルスキャン、表面トポグラフィーのマッピング、組成識別など、さまざまなオンボードイメージング技術が可能です。さらに、ユーザーは装置の性能を特定の適用にカスタマイズするために操作および変数の広い範囲をセットアップできます。試料ステージは、0。002°の連続微細回転が可能であり、また、自動ワイドフィールドモザイク、自動ドリフト補正、自動点及びクリックアライメントが可能です。標準的な作動距離は10mmで、ステージは3つの直交方向に1mm以上の変位を持つフルレンジの動きを持っています。JEOL JSM 6510は、効率的なユーザー操作のために設計されています。この機器は、人間工学に基づいたユーザーインターフェイスで構築されており、19インチのカラーディスプレイが含まれています。オンボードコンピュータは、PCとの通信のためのUSBやイーサネットを含む様々なネットワーキングプロトコルをサポートしています。JSM 6510は、低エネルギーSEMカラム、マイクロフォーカスシステム、調整可能なコントラストと輝度バランスを含む高度なイメージング装置を備えています。また、エネルギーフィルタリングユニットとエネルギー分散型X線分析機を搭載しており、組成の検討、定性位相解析、サンプル内の要素分布のマッピングを行うことができます。全体として、JEOL JSM 6510は高度で高性能なSEMであり、さまざまな用途で優れた画質を生み出すことができます。これは、経験豊富な研究者による効率的な使用のために設計されており、産業用サンプル特性評価のニーズを満たすために適応することができます。
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