中古 JEOL JSM 6510 #9184193 を販売中
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販売された
ID: 9184193
ヴィンテージ: 2012
Scanning electron microscope (SEM)
Tungsten filament
Includes:
Standard recipe
Stigmator memory
Dual live image
Full size image display
Pseudo color
Digital zoom
Dual magnification
Measurement
Auto image archiving
JED-2300 EDS (JSM-6510LA and JSM-6510A)
Resolution HV mode: 3.0 nm (30 kV), 8nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
LV Mode: 4.0 nm (30 kV) (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Magnification: 5 x 300,000 (on 128 mm x 96 mm image size)
Preset magnifications: (5) Steps
Custom recipe:
Operation conditions:
Optics
Image mode
LV Pressure
Image mode:
Secondary electron image
REF Image
Composition (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Topography (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Shadowed (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV
Filament: Factory pre-centered filament
Electron gun: Automated, manual override
Condenser lens: Zoom condenser lens
Objective lens: Super conical objective lens
Objective lens apertures: (3) Stages, XY fine adjustable
Electrical image shift: ± 50 μm (WD = 10 mm)
Auto functions: Focus, brightness, contrast, stigmator
Eucentric large-specimen stage:
X: 80 mm
Y: 40 mm
Z: 5 mm to 48 mm
Tilt: −10° to 90°
Rotation: 360°
Reference image (navigator): (4) Images
Maximum specimen: 150 mm diameter
PC: IBM PC/AT Compatible
OS: Windows 7
Monitor: 19" LCD
Frame store: 640 x 480, 1280 x 960, 2560 x 1920, 5120 x 3340
Multi image display:
(2) Images
(4) Images
Network: Ethernet
Image format: BMP, TIFF, JPEG
Fully automated pumping system:
DP1(Diffusion pump)
RP1(Dough pump)
2012 vintage.
JEOL JSM 6510は、高解像度の特性評価とイメージングの両方を目的とした走査型電子顕微鏡（SEM）です。現場で実証された最新技術を搭載し、高品質なイメージングとスループットの向上を実現しています。JSM 6510は、広い視野（FOV）と深度（DOF）により、サンプル中の微細な構造を解決することができます。JEOL JSM 6510は、最先端のコラムにより、優れたイメージング機能と信号対ノイズ比を備えています。均一・高精細画像を実現するフラットフィールドレンズを搭載し、高解像度、高コントラスト、高空間分解能で画像を作成します。二次電子検出器（SED）は、高感度低電圧検出器とエネルギースペクトルイメージング機能を備えており、ユーザーは精度を向上させた分析タスクを実行することができます。JSM 6510は、複数の加速電圧、電子検出、およびイメージングを通じて柔軟性を提供し、さまざまなサンプルおよび分析タスクに適用できます。さらに、サンプルマウントシステムを自動化し、サンプルを自動検出して正確かつ再現性の高い結果を得ることができます。JEOL JSM 6510は、傾斜立体視、トモグラフィー、検査、3Dイメージングなどのさまざまな機能を提供し、サンプルの包括的な概要を提供します。さらに、JSM 6510はインコラムラスタリングステージを使用しており、ユーザーは好みの画像領域と傾き、解像度などのパラメータを選択して画像を絞り込むことができます。JEOL JSM 6510は、オープンソフトウェアプラットフォームでも設計されており、画像処理手順をカスタマイズしたり、自動ルーチンなどの追加機能を追加する柔軟性をユーザーに提供します。JSM 6510は、生物学、環境、材料、その他の分析アプリケーションを含む幅広い特性評価およびイメージング作業に最適なツールです。JEOL JSM 6510は、高度なイメージング機能とユーザーフレンドリーな機能を組み合わせることで、優れたイメージング性能を提供します。
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