中古 JEOL JSM 6510 #293758764 を販売中

JEOL JSM 6510 Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノスケールまたは原子レベルのサンプルの高分解能解析に使用される高度なイメージングおよび分析ツールです。これは、ユーザーが簡単に様々な標本を正確に特徴付けることができる高度なイメージング機能の多種多様を備えています。JSM 6510には、高エネルギー電子からサンプルを損傷することなく、最高レベルのディテールを得るために、余分な低電圧画像を提供するGIS電界放出電子銃が装備されています。この顕微鏡は、0。2nmの解像度を持つ3.4kVを使用した改良された低電圧Cs Field Emission Gun （FEG）を使用し20kVいます。また、3軸電動ステージと2つの異なるモーター式フォーカスノブを備えており、ユーザーは精度とわずかな調整でサンプルに集中することができます。JEOL JSM 6510は、14メガピクセル充電デバイス（CCD）カメラからなる画像キャプチャシステムも提供しています。このカメラは、最大14メガピクセルの画像を生成し、3倍の光学ズーム、6。3倍のデジタルズーム、および8倍のカラースライダーモードが含まれています。これにより、ユーザーは詳細かつ正確な画像を作成し、さらなる分析を行うことができます。JSM 6510は、サンプルを詳細に調べるためにいくつかの分析技術を採用しています。その中には、元素解析のためのエネルギー分散分光法（EDS）、回折および再結晶研究のための電子後方散乱回折法（EBSD）、サンプルからの発光のイメージングと解析のための陰極発光法（CL）などがあります。この顕微鏡はまた、二次電子イメージング（SEI）、二次電子分光、および後方散乱電子イメージング（BEI）のような追加のマイクログラフ機能を提供します。JEOL JSM 6510は、様々な研究用途における標本の精密かつ詳細な画像を提供するために設計された、汎用性の高いイメージングおよび分析ツールです。その高度な機能と分析機能は、研究者がサンプル材料についてさらに洞察を得るのに役立つ詳細な結果を提供します。