中古 JEOL JSM 6500F #9180119 を販売中

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製造業者
JEOL
モデル
JSM 6500F
ID: 9180119
Scanning electron microscope (SEM).
JEOL JSM 6500Fは、ナノスケールのサンプルの範囲を観察するために使用される走査型電子顕微鏡(SEM)の一種です。優れた解像度のイメージング、サンプルの元素および化学分析、および高倍率および低倍率のイメージングのためのさまざまな機能を提供します。JEOL JSM-6500 Fは可変圧(VP)モードと高真空(HV)モードの両方で動作し、低解像度と高解像度の両方のイメージングに対応する汎用性の高い機器です。VP機能により、低真空での試料表面のモニタリングが可能になり、クライオポンピングシステムの必要性がなくなり、試料調製が改善されます。また、非科学的な信号を低減する環境ノイズフィルタを搭載し、サンプル地形の概要をより明確にします。イメージングモードでは、JSM 6500Fは最大200,000xまで拡大でき、サンプルの構造の正確な詳細を提供します。また、低倍率での表面特徴の検出を容易にし、ユーザーが任意の異常を識別することができます。この顕微鏡には、イメージング機能とともに、二次電子、後方散乱電子、およびX線を使用してサンプルの化学的または元素分析を行うことができる特定の検出器が装備されています。JSM-6500 Fには、最適な分解能と信号対ノイズ比を実現する低ノイズ回路や、サンプル表面測定用のマルチチャンネルアンプなど、さまざまな信号安定化機能が搭載されています。さらに、このスコープには、さまざまなサンプルの画像コントラストを正確に最適化する自動画像最適化技術が採用されています。このSEMにはガスインジェクタモジュールが装備されており、アルゴンや窒素などの不活性ガスをサンプルに穏やかに流して解像度を向上させます。また、インレンズ二次電子検出器により、イメージング結果の改善と高い横分解能を実現しています。JEOL JSM 6500Fは、操作の利便性のため、コンピューター制御のGUIを介して動作します。タッチスクリーンインターフェイスを使用して、電子ビーム電流、加速電圧、フォーカスなどの設定パラメータを調整できます。また、明るさ、コントラスト、シャープネス、彩度などのさまざまな画像調整ツールも含まれており、ユーザーはニーズに合わせて画像をカスタマイズできます。この走査型電子顕微鏡は、蛍光材料、高分子、生物学的サンプルの観察と分析のための汎用性と信頼性の高い機器です。優れた解像度、高度なイメージング技術、便利なタッチスクリーンインターフェースを備えたJEOL JSM-6500 Fは、さまざまなラボアプリケーションに最適な機器です。
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