中古 JEOL JSM 6500F #293604703 を販売中

JEOL JSM 6500Fは、最先端のイメージングと解析用に設計された高解像度走査型電子顕微鏡（SEM）です。高解像度のイメージングおよび分析機能を提供し、材料研究や故障解析から半導体デバイス解析、プロセス制御、サンプル調製まで、さまざまな材料特性評価アプリケーションに使用できます。JEOL JSM-6500 Fは、完全なサンプル操作のための自動化されたサンプルチェンジャーで、ナノメートル解像度までの物体の観察を可能にします。この顕微鏡は、自動機能、ジョイスティック制御ステージ、および高速スキャンを備えた使いやすさのために設計されています。高性能オプティクスを搭載し、高精度なイメージングとダイナミックノイズ低減機能を提供します。検出器は全範囲の機能に合わせて最適化されており、ユーザーは優れたコントラストと解像度を得ることができます。JSM 6500Fには、エネルギー分散分光法（EDS）やWDS （Wavelength Dispersive Spectroscopy）など、元素解析のための完全な分析機能も搭載されています。これらのテクニックはどちらも、高精度で高速かつ信頼性の高い要素マッピングを可能にします。JSM-6500 Fは、最高の精度と再現性を確保するためにビームエネルギーと検出インテリジェンスの慎重な選択で、ステージX線画像や自動穀物測定にも使用できます。JEOL JSM 6500Fは、顕微鏡や検出器機能の自動制御、信号アシスト機能の自動化など高度な制御機能を提供し、解析結果のさらなる改善を実現しています。また、この顕微鏡は高度なデータ収集および分析機能を備えており、ユーザーはスキャン領域、パラメータ、信号、およびデータ収集を完全に制御できます。JEOL JSM-6500 Fは、高解像度、自動化された機能、および幅広い分析機能を組み合わせた、さまざまな研究および実験室のニーズに最適なツールです。