中古 JEOL JSM 6490LV #9293317 を販売中
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ID: 9293317
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDAX Octane 9 Energy Dispersive Spectrometer (EDS)
Operating system: Windows 10
DENTON VACUUM Desk V Sputter coater
With specimen holders and accessories
Electron gun
Pre-centered tungsten
Accelerating voltage: 0.3 Volts to 30 kV
High vacuum resolution: 3 nm at 30 kV
Low vacuum resolution: 4 nm at 30 kV
Magnification: 5x - 300,000x Secondary electron image
Auto-focus
Auto-stigmator
Auto-gun (Saturation, Bias and Alignment)
Auto-contrast
Auto-brightness
Continuous auto bias
With fine X/Y controllable directions
Diffusion pumped specimen chamber
Specimen stage
Motions:
X: 125 mm
Y: 100 mm
Z: 5 mm to 80 mm
Tilt: -10° to +90°
Rotation: 360° Continuous
Full coverage: 32 mm
Maximum specimen size, 8”
Coverage specimen loadable, 12”
Super conical objective lens
(3) Objective final lens apertures
High resolution LCD monitor, 20"
BSE Detector.
JEOL JSM 6490LVは最先端の走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、電子銃、コラム、および様々な検出器からなるデュアルビーム技術プラットフォームに基づいています。電子銃は0。5keVの着陸エネルギーおよび25keVの最高力の電子を出すことができる熱弧の陰極です。電子ビームを導くカラムは、最大加速電圧30kVの100kV可変ステージです。このカラム独自の低電圧機能により、サンプルの最高解像度のイメージングが可能になり、画像に関しては最大限の柔軟性が得られます。JEOL JSM-6490LVでは、標準的なSEM用途における二次および後方散乱画像のほか、波長分散分光法(WDS)、エネルギー分散分光法(EDS)、電子マイクロプローブ解析(EPMA)など、幅広いイメージング機能を備えています。EDSでは、電子ビームを照射した際に試料から放出されるX線を検出することで、試料から元素情報を得ることができます。JSM 6490LVには、完全電動サンプルステージ、電動ミニSEMステージ、電動XYZステージが装備されています。様々な対物レンズから選べるため、10x〜700,000xの倍率でサンプルを観察することができます。また、画像解像度を向上させるための自動ピクセルサイズ調整システムも含まれています。真空ポンプは、サンプルチャンバーが常に高真空の状態で維持されるようにシステムに含まれています。これにより、サンプルの乱れを最小限に抑えた高分解能イメージングと分光実験が可能になります。JSM-6490LVは、静電レンズ砲塔、絞り、倍率、偏向など、さまざまなマニピュレータで操作することができ、電子ビームの微細な位置制御を可能にします。全体として、JEOL JSM 6490LVは、高精度、超高解像度のイメージングおよび分光アプリケーション向けに設計された強力な走査型電子顕微鏡です。汎用性の高いデュアルビーム設計、さまざまな強力な検出器、完全電動サンプルステージ、さまざまな対物レンズ、および効率的なサンプル処理のための真空ポンプを備えています。統合されたソフトウェアは使いやすく、ユーザーの正確なニーズに合わせてイメージングまたは分光性能をカスタマイズするための幅広い設定を提供します。
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