中古 JEOL JSM 6490LV #9278879 を販売中
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ID: 9278879
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution: 3.0 nm
Includes:
(2) CPU
(3) APC Back-ups
KEITHLEY 487 Picoammeter / Voltage source
KE Infrared chamber scope interface
JOEL MP-05010
Net gear ProSafe 5 Ports
(2) PANASONIC Vacuum pumps
Power cords
(2) Monitors
Power supply: 100 V, 50/60 Hz, 30 A.
JEOL JSM 6490LVは、研究室や教育機関で使用される高精度スキャン電子顕微鏡（SEM）です。微小およびナノスケール材料の優れた品質のイメージングを可能にする拡大、解像度、電子ビームのための幅広いオプションを提供します。JEOL JSM-6490LVは、100,000xの倍率までの画像素材に優れた解像度を提供します。LaB6高張力電子源を搭載し、安定でクリーンな電子ビームを提供します。このソースは非常に低いノイズレベルを提供し、正確なビーム操作のためのサブミクロン電子ビーム安定性を提供します。JSM 6490LVにサンプルの容易な取付けそして取り外しのために設計されているサンプル部屋があります。クリアなファインダーにより、サンプルをすばやく調べることができ、付属のLEDサンプル照明により、サンプルを認識して見つけることが容易になります。SEMにはオートフォーカス技術も搭載されており、チャンバー内のオブジェクトの自動フォーカスとスキャンが可能です。さらに、JSM-6490LVは、300 x 300mmまでの大容量の高度な2軸サンプルステージを備えています。また、精度、安定性、再現性を提供する超精密電動ムーブメントシステムを搭載しています。SEMは、SEM、 EDS、 CL、立体画像などのさまざまなモードで画像を取得することもできます。最後に、JEOL JSM 6490LVは、様々な材料を撮影する際の機器の精度を向上させる高度なスクリーニングおよびフィルタリングシステムを備えています。デジタルとアナログの両方の信号出力を備え、電子光学とサンプル分析を制御するためのソフトウェアを内蔵しています。堅牢な設計と高度な機能を備えたJEOL JSM-6490LVは、さまざまな材料科学研究開発アプリケーションに最適な機器です。
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