中古 JEOL JSM 6490LV #9213891 を販売中

JEOL JSM 6490LV Scanning Electron Microscope （SEM）は、高解像度のイメージングと解析のための汎用性の高い強力な装置です。環境走査型電子顕微鏡（ESEM）用サンプルホルダーを幅広く搭載し、湿度、真空、低温・高温など様々な環境でのサンプル分析が可能です。SEMで実現できる最大倍率は100,000xで、二次および後方散乱電子検出器の両方をイメージングおよび元素解析に使用できます。SEMの動作電圧範囲は1〜30kVで、微細な表面の適切なサンプルミリングと分解能を保証するために加速電圧を微調整することができます。微細な制御は、0。5nm未満のイメージング機能に特に役立ちます。JEOL JSM-6490LVではX線分析の感度も可能で、試料中の微小元素や微量元素を簡単に定量化することができます。SEMは、大型標本を撮影するための自動化されたステージを持ち、直径100mmまでスキャンすることができます。また、JSM 6490LVは線形検出器を備えており、ラインスキャンサンプルの容易なイメージングが可能です。また、自動化されたナビゲーションとイメージングにより、迅速な画像取得が可能です。JSM 6490Lには、標準バージョンとESEMパッケージの2つの基本パッケージがあります。標準バージョンは、環境スキャンチャンバーの機能を必要としない人のためのものです。ESEMパッケージには、低温および高温、水、ガス分析用の環境スキャンチャンバーが含まれています。JSM-6490LV SEMは、さまざまなアプリケーションで使用できる非常に汎用性の高い強力な機器です。そのユーザーフレンドリーな設計、可変電圧範囲、自動ナビゲーション、および元素解析機能により、あらゆるラボにとって非常に貴重なツールとなります。高解像度でデリケートな表面をイメージすることができるため、より伝統的なSEMではアクセスできない魅力的で詳細なデータを提供できます。