中古 JEOL JSM 6490LV #293594823 を販売中
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ID: 293594823
Scanning Electron Microscope (SEM)
Magnification: 8x to 300,000x
Image mode: SEI, BEI, Low vacuum BEI
Probe current: 1 pA to 1 µA
Low vacuum mode resolution (BEI): 4 nm at ACC 30 kV, WD: 5 mm
Pressure: 10 Pa to 270 Pa
Lowest pressure: 1 Pa
Image mode: BEI-Composition-topography
No DP
Lens: Electromagnetic 2-stage zoom condensor
Lens type: Objective lens (Supper conical mini lens)
Dynamic focus: Linked to AccV and magnification auto focus tracer
Wobbler
Automatic focusing (AFD)
Specimen stage type: Eucentric
Maximum acceleration voltage: 30 kV
Vacuum pump:
Primary: Turbo pump
Secondary: Rotary pump
Resolution:
3 nm at ACC 30 kV, WD: 8 mm, SEI
8 nm at ACC 3 kV, WD: 6 mm, SEI
15 nm at ACC 1 kV, WD: 6mm, SEI
Full automatic stage (X, Y, Z, R, T):
X: 125 mm
Y: 100 mm
Z: WD: 5 mm to 48 mm
Tilt: -10° to 90°
Rotation: 360° (Endless)
Operating system: Windows 7.
JEOL JSM 6490LVは、優れた画像解像度、高解像度イメージング(HRI)、長寿命で知られる走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、標本の画像を取得するために電子ビームを使用します。このSEMは完全に自動化されており、完全に統合された試験片ステージ、統合された二重検出器システム、および真空システムがあります。JEOL JSM-6490LVは、最大1nmの解像度を提供するSEMで、最大100,000xの倍率で3次元画像を生成することができます。これは、高解像度のイメージングを必要とする薄膜材料、金属、およびその他の材料をイメージングするために最適化されています。精密なビーム制御と高度なイメージング機能と自動化された機能を組み合わせたJSM 6490LVは、材料の特性評価、故障解析、および研究アプリケーションに最適なツールです。JSM-6490LVの二重検出器は、二次電子、後方散乱電子、およびX線信号の優れた感度と検出を提供します。検出器は、さまざまな角度から信号を収集し、複雑なアライメントと多方向イメージングを必要とする標本の完全な収容を提供します。JEOL JSM 6490LVが作成した画像は、優れたコントラストと精密なディテールを提供し、欠陥解析に最適なツールです。JEOL JSM-6490LVは、0。1 μ m (10nm)の分解能で直線運動や角度運動を行うための全自動試料ステージを備えています。これにより、試験片を迅速かつ正確に再配置することができ、結果としてイメージングと分析が改善されます。高度な標本のナビゲーションと位置制御により、正確な設定がイメージされるたびに常に同じサンプルで使用されるようになります。試料ステージには、環境制御および防振オプションも装備されており、イメージング中の動きの歪みを最小限に抑えます。JSM 6490LV走査型電子顕微鏡は、幅広い材料特性評価アプリケーションに対応できるイメージングソリューションを提供します。故障解析、ナノスケールイメージング、研究に最適な装置です。その優れた解像度、自動化された機能、高度なデュアル検出器は、精密で詳細な画像処理結果を必要とする実験室の設定に最適です。
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