中古 JEOL JSM 6480LV #9285443 を販売中

JEOL JSM 6480LV Scanning Electron Microscope （SEM）は、誘電体・金属表面のマッピングおよび解析に使用される高度な分析装置です。JSM 6480LVは、高解像度の二次電子イメージング機能を提供し、優れた被写界深度と信号対ノイズ比の向上により、優れた画質を実現します。JEOL JSM 6480LVは、試料と検出器間の広い作動距離と広い視野を備え、より詳細なレベルを提供します。AE検出器の構成は、Everhart-Thornleyイメージングまでの標準解像度で、最大3。5nmの横解像度と1枚の画像解像度あたり5。2nmのラインで、サンプルの小さな構造、表面の特徴、干渉パターンをよりよく視覚化することができるイメージングモードを提供します。また、専用の低真空イメージング技術を搭載しており、試料調製なしでの試料イメージングが可能です。これにより、分析前および分析中にサンプル調製処理を行うことなく、ミクロンスケールの物理的特徴をキャプチャすることができます。JSM 6480LVは、背面散乱電子イメージング、化学マッピング、エネルギー分散X線分光法（EDS）、 X線蛍光法（XRF）、スキャンオーガーマイクロアナリシス（SAM）など、包括的な分析技術を提供するように設計されています。これらの技術は、微細構造解析、化学組成同定、および高精度の元素マッピングを提供します。JEOL JSM 6480LVには、手動でサンプルを配置することなく、サンプルを傷つけてチャンバーに配置することができるオートサンプラーが含まれています。高エネルギー分解能イオンビーム源は、非常に詳細な化学イメージングと分析を保証します。JSM 6480LVには、自動化された試料ステージが装備されており、手動調整やサンプルの再配置を必要とせずに、大型試料の連続スキャンとイメージングが可能です。このシステムは、サンプル実装用のコンピュータ制御の超高真空（UHV）チャンバを備えており、分析前および分析中の表面の完全性を保証します。JEOL JSM 6480LVは、微細加工プロセスの最適化、太陽電池・太陽電池、ナノマテリアル・ナノエレクトロニクス、故障解析など、さまざまな用途で材料の物理的・化学的特性を研究するための貴重なツールです。高解像度機能により、複雑な表面フィーチャーの正確なイメージングと解析が可能です。このシステムは信頼性が高く、堅牢で、利便性と柔軟性を備えているため、高度なサンプル分析のための汎用性の高いソリューションです。