中古 JEOL JSM 6460LV #293762948 を販売中

JEOL JSM 6460LVは、電子ビーム技術を特長とする高度な走査型電子顕微鏡です。イメージング、結晶構造解析、原子プローブ解析など多彩な実験を可能にする多目的顕微鏡です。この装置はショットキーフィールド放出電子源（FEIS）を採用しており、最大ビーム電流は2。0nA、加速電圧は最大150kVです。JEOL JSM-6460LVの電子光学系は、電子の光学カラムを持つ複数のレンズシステムを採用しており、電子の画像・検出・解析が可能です。ユニークな電子光学系には、二次電子検出器、後方散乱電子検出器、湿式結晶検出器、電界放射検出器、X線検出器からなるインレンズ検出器システムがあります。様々な検出器を使用することで、さまざまな画像、信号、スペクトルを得ることができます。JSM 6460LVはまた、顕微鏡下で優れたサンプル安定性を提供する様々なサンプルステージを備えています。反転サンプルホルダーを使用JSM-6460LVと、冷却または加熱を必要とする低温実験を行うことができます。JEOL JSM 6460LVには、様々な機能や機器制御ソフトウェアが搭載されており、幅広い実験パラメータを正確に制御し、高品質な画像を得ることができます。このソフトウェアには、電子ビーム電流制御、画像処理、画像解析、分光処理機能が組み込まれています。JEOL JSM-6460LVはまた、アルゴンイオンスパッタリング、アルゴンクラスタスパッタ沈着、カーボンスパッタ沈着など、革新的なサンプル調製能力を提供します。アルゴンイオンスパッタリングにより、サンプル表面に金属または酸化物の薄い層を作成することができます。一方、アルゴンクラスタスパッタ蒸着およびカーボンスパッタ蒸着機能により、サンプル表面の効果的な静電コーティングが可能です。全体として、JSM 6460LVは、最先端の電子光学系および計測機器制御ソフトウェアを搭載した汎用性の高い走査型電子顕微鏡であり、安定性を高めるためのサンプルステージ、アルゴンイオンスパッタリング、各種コーティング機能などの追加機能を備えています。これは、さまざまなサンプルの画像、検出、分析を探している研究者にとって理想的な選択肢です。