中古 JEOL JSM 6401F #9288544 を販売中

JEOL JSM 6401F
製造業者
JEOL
モデル
JSM 6401F
ID: 9288544
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6401Fは、材料科学、生物学、半導体エンジニアリングの分野でユーザーを支援する高精度画像と機能を提供する走査型電子顕微鏡(SEM)です。この最先端の楽器は、広い作動距離、長いステージ移動範囲、そして30mmの作動距離で0。4nmの並外れた高解像度を備えています。この解像度を実現するのは、電子焦点レンズを利用した電界放射ガン(FEG)電子源で、極めて明るく高濃度の電子ビームを作り出しているからです。この高い電子ビーム輝度は、画像のコントラスト、画像解像度を改善し、最高の精度を保証します。JSM 6401Fでは、二次電子イメージング、信頼性の高い明るいフィールド画像、オートフォーカス画像など、さまざまなモードで2Dおよび3Dの特徴を観察できます。さらに、HAADF (High-angle annular dark field)は、従来の明るい場イメージングよりも強力な結晶構造解析を提供します。HAADFイメージングユーザーの使用により、微細な構造を正確に測定および定量することができます。二次電子伝送検出器は、マルチストップ、明るさとコントラスト、ガンマ、可変クロスオーバー、電子背景、画像位置決めなどのいくつかのオプションを提供します。この多様な機能の選択は、ほぼすべての昆虫、鉱物、または他のオブジェクトの細部を引き出すのに役立ちます。JEOL JSM 6401Fは、多彩な倍率と幅広い動作距離により、ルーチンおよびハイエンドの科学顕微鏡アプリケーションに最適です。様々な電子銃の設定により、マイクロエレクトロニクス成分、高分子、金属、酸化物、細胞器官、生きた細胞、組織サンプルなど、特に画像に困難な物体の観察にも使用できます。要するに、JSM 6401Fは、様々な観測や環境に応用できる高度なイメージング技術を備えた、汎用性の高い強力な走査型電子顕微鏡です。高解像度、ハイコントラスト、広い用途範囲などの優れた機能により、細かい写真や正確な測定が必要な方に最適です。
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