中古 JEOL JSM 6400F #9316404 を販売中

JEOL JSM 6400Fは、幅広い用途向けに設計された高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。6kgまでのサンプルには200mmステージ、300mmまでの広い視野を備え、優れたサンプル操作と登録を提供します。この顕微鏡には、サンプルの定量分析を可能にするエネルギー分散分光計（EDS）も含まれています。EDSには連続スキャンモードもあり、オペレータは広い領域を迅速かつ正確に分析することができます。JEOL JSM 6400 Fは、可能な限り最高の画像解像度と画像安定性を得るために高解像度のタングステン場の放出フィラメントレス電子源を利用しています。FEGソースは、すべてのサンプルの解像度とコントラストを向上させる高輝度を提供し、超高解像度イメージングのための拡張された動作範囲を提供します。さらに、FEGソースは、真の低角度の照明を放出します。これは、機器のイメージング品質と容量をさらに向上させる特性です。JSM 6400Fは、測定器のステージと互換性のある多種多様なサンプルホルダーを備えており、正確で一貫したサンプル配置のためのさまざまなサンプルサイズと形状に対応するように設計されています。このステージは堅牢な機械的安定性を提供し、真空を破壊することなくサンプル交換を可能にする自動サンプル交換機能を備えています。自動化された交換機能により、低真空モードで多目的な動作を可能にし、究極のサンプル保護を実現します。JSM 6400 Fには、低電圧スキャン電子顕微鏡をはじめとする幅広いイメージングモードが含まれており、インレンズとボトムディテクタの両方を備えており、最適なサンプル特性評価が可能です。明視野と暗視野のイメージングに加えて、ユーザーは3つの信号成分すべてをキャプチャするために、同じ標本フィールドからの逆散乱および二次電子を記録することもできます。この機器にはデジタルイメージングとオートメーション機能も装備されており、ユーザーは任意の場所から画像にアクセスして分析することができます。JEOL JSM 6400Fは、大規模なサンプル交換エリアと高速取得速度を備えているため、迅速なサンプルスキャンに最適であり、モジュール設計によりメンテナンスが簡素化されています。また、直感的なユーザーインターフェイスを備えており、ユーザーはデータをすばやく作業して解釈することができます。ユーザーインターフェイスには、安全な動作を保証するように設計された広範な安全機能も含まれています。