中古 JEOL JSM 6400F #9253741 を販売中

JEOL JSM 6400Fは、多種多様な材料の顕微鏡構造と組成の画像・解析に使用される高精度スキャン電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、エネルギー分散型X線分析法（EDS）を用いた元素解析だけでなく、表面の特徴を画像化することも可能です。JEOL JSM 6400 Fは、オートフォーカス、10Xから50,000Xまでの倍率範囲、および1。0nmの解像度を備えた洗練されたイメージング機能を提供します。また、6400Fには新たに設計された低振動制御システムがあり、高解像度で動作すると非常に安定します。また、0。1〜20,000cpsの信号検出範囲を持ち、0。5〜30kVの2つの異なる電子電圧で動作するため、幅広い材料や表面に適しています。さらに、低ノイズのデジタルプリアンプは、特にEDS解析中に、イメージノイズを大幅に低減します。後方散乱電子検出器はまた、高速な50秒の応答を持っており、ビーム浸透ドリフトによるアーチファクトなしで画像をキャプチャすることができます。JSM 6400Fには、SEMで発生する画像の歪みを最小限に抑えるオートスティグおよびアスティグメーターユニットが装備されています。このユニットはまた、イメージングと分析の両方のためのビューのフィールドの簡単なナビゲーションを可能にします。さらに、ラインスキャン、マッピング、Eビーム誘導電流、ビームバックスキャッタおよびスレッショルドシミュレーションなど、さまざまな分析オプションを利用できます。最後に、JSM 6400 Fには、迅速なデータ分析とレポート作成を可能にする自動解析ソフトウェアもあります。全体的に、JEOL JSM 6400Fは、さまざまな材料の分析とイメージングのための強力で正確な走査電子顕微鏡を提供します。