中古 JEOL JSM 6400F #9236172 を販売中

JEOL JSM 6400Fは、高解像度で標本を画像化・解析するために使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。そのユニークな機能と機能により、材料科学、微細加工、ナノテク、医学、法医学など、さまざまな研究アプリケーションに適しています。JEOL JSM 6400 Fは、高分解能ゼオライト被覆電界放射銃（FEG）を使用し、加速電圧は0。15kV〜30kVです。このダイナミックレンジにより、非導電性材料から高導電性サンプルまでのサンプルを特徴付けることができます。顕微鏡はSEまたはBSEイメージングモードで実行でき、マイクロプロセッサ制御のサンプルレベリング装置は正確なイメージングを保証します。JSM 6400Fには、画像条件を最適化し、コントラストを高めるために使用できる独自のデジタル画像処理システムもあります。また、3つのRGB LEDバックライトを備えたデジタルカメラもあり、最大2450万色の色域で画像をキャプチャできます。また、オートフォーカス機を搭載したステージスキャンユニットを採用し、最大30nmの超小型サンプルサイズを実現しています。JSM 6400 Fの高度な電子光学は、光学顕微鏡で達成可能よりも高い解像度を可能にします。オプションのインレンズ検出器を使用することで、解像度をさらに高めることができます。さらに、組み込みの時間分解EELSおよびEDXシステムを使用して、時間分解スペクトル解析が可能です。組み込みソフトウェアにより、ユーザーはデータをすばやく分析し、3D再構築を生成できます。JEOL JSM 6400Fは、自動サンプルナビゲーションや自動取得などの機能を備えた強力なソフトウェアパッケージも備えています。これらの機能により、サンプルの画像化と分析を容易かつ迅速に行うことができます。顕微鏡は、アクセサリーやデバイスの広い範囲と互換性があり、ユーザーはさらにその能力を拡大することができます。全体として、JEOL JSM 6400 Fは高度で高性能な走査型電子顕微鏡で、優れた解像度とコントラストを提供し、さまざまな材料を迅速かつ効率的に画像化および分析することができます。