中古 JEOL JSM 6400F #9232673 を販売中

JEOL JSM 6400Fは、高解像度イメージングと多種多様な分析機能を提供するために設計された最先端の走査型電子顕微鏡（SEM）です。二次電子、後方散乱電子、反射電子を利用して、被写界深度の鮮明で詳細な画像を作成します。この装置には、さまざまな試料ホルダーとステージが装備されており、さまざまな試料サイズと形状に対応しています。イオン銃と電子銃を内蔵したJEOL JSM 6400 Fは、表面品質の高い試料を生成することができ、正確かつ正確な画像処理が可能です。この顕微鏡は、明るさとイメージング速度を向上させるための高い電子ビーム電流を生成することができるフィールド放射コールドカソード（FEG）銃を備えています。さらに、JEOL特許取得済みのCeta技術を搭載したElite FEGにより、ビーム電流のより正確な測定、輝度の向上、長寿命、およびより狭い電子ビームを実現します。このJEOL Elites FEGの小型化により、より低い電流での動作が可能になり、試料分析をより正確に制御できます。JSM 6400Fは直感的なユーザーインターフェイスと簡単に設定できるソフトウェアで構築されており、インストゥルメント設定をすばやくカスタマイズできます。さらに、この顕微鏡は、正確で反復可能な結果を保証するために自動化されたステージと交換可能なレンズを備えています。解析能力の面では、JSM 6400 Fは様々な元素マッピング、化学分析、エネルギー分散分光法（EDS）が可能である。そのEDS機能は高解像度で正確であり、1-3 keVの解像度で最大5要素を測定することができます。さらに、この顕微鏡は、被写界深度が大きく、焦点を合わせたイオンビーム機能を備えた3Dイメージングにも使用できます。全体として、JEOL JSM 6400Fは強力で多目的走査型電子顕微鏡で、詳細な画像や高精度な解析が可能です。幅広い運用能力と洗練された設計により、幅広い用途に最適です。