中古 JEOL JSM 6400F #9102730 を販売中

JEOL JSM 6400Fは、先進的な機能と小型を組み合わせた、幅広い材料研究用途向けの高性能イメージング、解析、測定ツールを提供するフィールドエミッションスキャン電子顕微鏡（FESEM）です。JEOL JSM 6400 Fは、1ナノメートルのビームスポットサイズの電子を生成する独自の電界放射銃（FEG）を使用しています。これは、サンプル充電と表面効果を排除するためにユニークなトリプルガン設計と高度な技術と組み合わされています。モノリシックワークフローには、同時画像検出用のデュアルディテクタが組み込まれており、比類のない精度で高解像度のイメージング、化学分析、表面トポグラフィが可能です。試料チャンバーはまた、1x10-6Paの真空レベルを提供し、高分解能表面および光学現象の研究に最適です。JSM 6400Fは、イメージング、解析、測定性能において重要な利点を提供します。最大8nmの高解像度電子光学とピクセル分解能により、極めて明瞭な微細な特徴のイメージングが可能です。スキャンオーガー顕微鏡（SAM）およびX線エネルギー分散分析（EDS）機能により、原子レベルの精度で標本を化学的に分析できます。波長分散分光法（WDS）や電子逆散乱回折（EBSD）などの高度な技術により、ナノ領域での3D化学および結晶イメージングが可能になります。また、低真空環境では、画像処理中に変化が生じないことも保証されており、長期的な実験でも信頼性の高い画像処理が可能です。JSM 6400 Fは、ユーザーフレンドリーで直感的なソフトウェアインターフェイスを備えており、すべての運用パラメータとシステム設定を効率的に制御できます。このインターフェイスにより、リアルタイムのデータキャプチャと他の分析ツールとの統合も可能になります。自動化されたサンプル調製ツールはサンプル調製にかかる時間を短縮し、自動化された分析ツールは数回のマウスクリックで顕微鏡データの分析を可能にします。JEOL JSM 6400Fは、ナノテクノロジー、材料科学、半導体物理学、半導体デバイスの分野での研究開発に最適です。