中古 JEOL JSM 6400F #9065264 を販売中

JEOL JSM 6400Fは、高度な分析およびイメージングスキャン電子顕微鏡（SEM）です。JEOL JSM 6400 Fは、広範囲のサンプルの詳細な検査のための超高解像度の画像を提供しています。大型試料室を含む超広視野を備えており、生物学、医学、材料科学、半導体産業の研究に最適です。高性能な電子カラム、高度な後方散乱電子検出器、柔軟性を備えており、要素マッピング、3D-reconstruction、生物学的イメージング機能など、さまざまな専門技術にアクセスできます。JSM 6400Fのコラムは、超高解像度（UHR）電子光学技術で構成されています。この技術は、収差を最小限に抑え、遮断されていない視野を最大化するように設計されています。これにより、従来のSEM機器よりも高解像度の画像を実現できます。JSM 6400 Fの統合された低電圧機能により、デリケートな有機サンプルに対してより低い加速電圧（<5kV）で安定したイメージングが可能です。JEOL JSM 6400Fには、背面散乱電子（BSE）検出器も装備しており、直接表面情報を含むビデオコントラスト画像を提供します。これにより、信号対ノイズ比が大幅に向上し、幅広いサンプルにわたってサンプル年齢が定量的になります。内蔵された低真空システムにより、超高真空（UHV）から高真空（HV）までの長時間動作時の汚染やノイズ低減を最小限に抑え、サンプルの安定性を確保します。柔軟性の観点から、JEOL JSM 6400 Fは、3D-reconstruction、生体イメージング、スペクトルイメージング、元素マッピングなど、さまざまな特殊な分析およびイメージング技術にアクセスできるため、さまざまな種類の材料特性評価アプリケーションに適しています。さらに、付属の自動化システムにより、ユーザーは高解像度の画像を迅速かつ便利にキャプチャできます。JSM 6400Fのスキャンステージは、直感的なソフトウェアインターフェイスを介してリモートで制御することができ、ユーザーは分析領域のサイズを制御し、より広い視野をキャプチャすることができます。要するに、JSM 6400 Fは、高度なイメージングおよび分析技術のための汎用性と強力なSEMです。その広い視野機能、高度な電子カラム、低加速電圧オプションにより、材料科学、半導体産業、および生物および医学研究の用途に適しています。さらに、その柔軟性と高度に自動化されたシステムにより、詳細な材料や生物学的分析のための時間を節約し、効率的なツールとなります。