中古 JEOL JSM 6400F #293590368 を販売中

JEOL JSM 6400Fは、電界放射走査型電子顕微鏡（FE-SEM）です。ナノメートルスケールからマイクロメートルスケールまでの特徴を見るために使用される、材料研究および分析のための強力なツールです。FE-SEMは、試料に極めて高強度の電子を供給するため、特定の半導体などの低電子吸収材料を調べるのに特に適しています。JEOL JSM 6400 Fは、電界放射銃（FEG）を使用して、従来のSEMと比較して高解像度の画像を実現します。また、FEGは他のデバイスと比較して低加速電圧を提供し、壊れやすいサンプルのイメージングに最適です。さらに、6400Fにはさまざまな分析機能があり、ユーザーは元素分析と化学状態マッピングを実行できます。これは、ベリリウム（Be）までの分解能で元素を検出できる超高解像度エネルギー分散X線検出器（EDX）を使用しています。これにより、顕微鏡JSM 6400Fは、サンプル中に存在する不純物や他の化学状態の存在を検出することができます。さらに、顕微鏡の電子ビーム誘導電流（EBIC）検出器を使用して、サンプル内の少数のキャリアを検出することができます。これにより、電気経路や経路などのp-n接合やその他のサブミクロンの特徴をトレースするのに役立ちます。この6400Fは、小型のサンプルステージや、従来の真空モードと低真空モードの両方の広い範囲など、他の機能も提供します。これにより、伝送、反射、バックスキャッターイメージングなど、さまざまな用途に適しています。JSM 6400 Fは材料科学の適用のために設計されている多目的で、強力な顕微鏡です。市場におけるあらゆるSEMの最高解像度と高度な分析機能を提供します。低吸収材料および特徴検出のイメージ投射のための理想、6400Fはあらゆる材料科学の研究プロジェクトの要求を満たして確実です。