中古 JEOL JSM 6400F #136301 を販売中

JEOL JSM 6400Fは、様々な研究・製造用途に使用される高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。CFAS （Column Focus Alignment System）を搭載したビームシステムを備え、高解像度のサンプル画像を作成することができます。JEOL JSM 6400 Fは、二次電子（SE）、後方散乱電子（BSE）、および引き込み式X線分析機能を備えています。環境SEM （ESEM）モード、真空モードでの動作が可能です。自動化されたステージコントローラを追加することで、自動アライメント、粗く、微細なサンプル位置調整が可能になります。この電子源は、偏向範囲が10。2cm、スポットサイズが5 μ m未満の4。5kV、 1。5 pAのビームを生成します。コラム・フォーカス・アライメント・システム（CFAS）を採用し、高コントラスト・イメージングを実現しています。フィールドエミッションガン（FEG）およびエネルギー分散分光（EDS）チャンバーは、最適な性能を提供します。サンプルチャンバーには、小面積サンプルのスキャンを容易にするステージインサートが取り付けられています。このデバイスは、0。9nmの画像解像度と核サイズのコントラストを備えており、幅広い材料の特徴を原子分解能まで解析することができます。それはまた3Dサンプルを作り出すのに使用することができます。JSM 6400Fは、高度にカスタマイズ可能なインストゥルメントであり、オプション機能として、事前選択スキーム、イメージシフト補正、自動フォーカス例などのツールを利用できます。このデバイスはまた、積層イメージング解析とデジタルカメラ操作が可能です。12。1インチのカラータッチパネルを備えた大画面で、データ操作と表示機能を完璧にすることができます。優れたイメージング機能に加えて、JSM 6400 Fは包括的なドキュメンテーションおよびデータ分析機能を提供します。画像キャプチャと解析プロセス全体が自動化され、専用のソフトウェアパッケージにより、ユーザーはさまざまな画像処理および分析ツールを利用できます。たとえば、ProSpecイメージキャプチャおよび解析パッケージを使用すると、サンプル画像を視覚化、測定、比較できます。