中古 JEOL JSM 6400 #9382242 を販売中

JEOL JSM 6400は、高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡には、二次散乱電子と後方散乱電子を組み合わせたイメージングシステムと、オプションの反射電子が搭載されているため、1つの試料表面からさまざまな分析情報が得られます。このシステムは、表面の地形、形状、組成、汚染、その他の表面の特徴を画像化するのに有効です。JSM 6400は0。02 nmまでの解像度を提供します。この優れた解像度は、微細な地形情報を提供し、ナノ粒子や原子構造などのナノスケール物体の特徴の画像化を可能にします。さらに、JEOL JSM 6400は、元素分析用に最先端のエネルギー分散分光計（EDS）を提供しています。高解像度画像から得られた情報とエネルギー元素解析を組み合わせることで、粒子や特徴の大きさだけでなく、組成も識別することができます。JSM 6400は、安定性の高い電源と高精度のステージ制御を備えています。これにより、正確で反復可能な設定と信頼性の高いスキャンが保証されます。高真空コンデンサー、サンプルチャンバー、対物レンズはすべて、焦点の光学的および被写界深度の向上に貢献し、より鮮明な画像を提供し、小さな機能でもコントラストを改善します。JEOL JSM 6400には、複数の散乱事象により劣化した電子をフィルタリングするエナジーフィルタリング透過電子顕微鏡（EFTEM）も搭載しており、より高いコントラスト画像を実現しています。また、さまざまな種類の画像と検出機能を提供する検出器の配列も備えています。これらの検出器には、二次電子検出器、後方散乱電子検出器、反射電子検出器、エネルギー分散分光計、アナログ電力検出器などがあります。JSM 6400は、サンプルアライメントやフォーカス、グリッドマッピング、画像制御など、さまざまな自動化された操作も備えています。広いチャンバーを持ち、幅広いサンプルホルダーに対応しているため、幅広い材料に適しています。この汎用性の高いツールにより、JEOL JSM 6400は、表面科学、ナノテクノロジー、材料分析の研究にとって貴重なリソースとなります。