中古 JEOL JSM 6400 #9288943 を販売中
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JEOL JSM 6400は、マイクロスケールおよびナノスケールの試験試料のイメージング、解析、3D再構築など、さまざまな用途に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。有機材料と無機材料の両方で動作するように設計されており、卓越した明瞭さ、正確さ、およびディテールを備えた高解像度画像を提供します。JSM 6400は、研究対象のサンプルを電子ビームでスキャンして画像化する特許取得済みの電子光学機器を使用しています。得られた画像は、（デバイス構成に応じて）最大9nmの側面分解能の印象的な詳細レベルを生成し、半導体製造からライフサイエンスまで、あらゆる研究分野に適しています。このデバイスには、定性的かつ定量的な元素分析のためのエネルギー分散X線検出器（EDX）、地形情報をキャプチャするための二次電子検出器、深度プロファイリングのための後方散乱電子検出器など、さまざまな検出器が装備されています。これらの検出器は、テストサンプルの包括的な研究のための強力な組み合わせを提供します。JEOL JSM 6400にはデジタルカメラも搭載し、高度な3Dイメージング機能を提供します。画像ステッチ機能を使用することで、サンプルの3Dレンダリングを作成することができ、見えにくい詳細を分析することができます。このデバイスはまた、幅広いデータフォーマットをサポートしているため、ユーザーはさまざまな方法で調査結果を簡単にエクスポートできます。最後に、このデバイスは、テストサンプルの最適な表示位置を迅速かつ正確に取得する独自のオートフォーカスシステムを提供します。直感的なコントロールユニットにより、露光時間、明るさ、倍率などのパラメータを素早く正確に調整し、望ましい結果を得ることができます。要するに、JSM 6400は、高精度で詳細な画像をレンダリングすることができる高性能SEMデバイスを必要とする研究者や研究室のための優れた選択肢です。さまざまな検出器、洗練された3Dイメージング機能、オートフォーカス装置は、材料科学、ライフサイエンス、エンジニアリングの分野における幅広い用途に最適です。
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