中古 JEOL JSM 6390LV #9133370 を販売中

JEOL JSM 6390LVは、材料分析および故障解析に使用するために設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。ファインフォーカス電子ビームを生成するフィールドエミッションガン（FEG）を搭載し、サンプルをスキャンして画像を生成します。この顕微鏡は、試料の調製と分析のためのさまざまなオプションを提供するだけでなく、ユーザーが高解像度の画像を得ることができるさまざまな機能を備えています。JSM 6390LVは広い視野を提供し、10nmから30µmまで働く容量があります。FEGにはフィールド曲率補償機能があり、画像解像度を向上させることができます。加速電圧は0.9kVから30kVまで調整することができ、目的に応じたさまざまなアプリケーションを提供します。また、この顕微鏡は信号対雑音比を向上させ、優れたコントラストと位相画像を保証します。また、JEOL JSM 6390LVにはエネルギーフィルタが搭載されており、波長分散分光法（WDS）とエネルギー分散分光法（EDS）が可能です。JSM 6390LVには、タングステンチップ、カーボンコーティングホルダー、引込めサンプルホルダー、インレンズサンプルホルダーなど、さまざまなサンプルホルダーが付属しています。特に後者は、6軸電動サンプル移動を備えており、ユーザーはサンプルを電子ビーム内に正確に配置することができます。SEMには、高真空準備および観測室も備えており、in situ secondary electron imagingを可能にしています。ユーザーの利便性を高めるために、変更段階、サンプルホルダー、および観察室はすべて単一のユーザーフレンドリーな多言語タッチスクリーンから制御することができます。さらに、画像や保存された情報を含むすべての顕微鏡データにアクセスし、ネットワークを介してリモートで可視化することができ、ユーザー間のコラボレーションを可能にします。要約すると、JEOL JSM 6390LVは、幅広い用途に対応した高解像度イメージングを提供する高性能SEMです。また、遠隔制御されたタッチスクリーンインターフェイスなど、ユーザーの利便性を高める多くの機能を提供しており、材料や故障解析に最適なツールです。