中古 JEOL JSM 6390LV #293637307 を販売中

JEOL JSM 6390LV Scanning Electron Microscope （SEM）は、顕微鏡の構造や表面を研究するための強力で汎用性の高い研究ツールです。この高分解能SEMは、加速電圧1kVで1nmの微細な空間分解能、および15kVで0。5 nmの横分解能を備えています。また、最大30mmの広い視野（FOV）と、最大1000cm2のサンプルエリアでの画像撮影が可能です。JSM 6390LVは、電子ビームを使用してサンプルの断面形状の画像を生成します。このビームは、2つのコンデンサーレンズと1つの対物レンズからなるレンズシステムを介して形成されます。コンデンサーレンズは、ビームをサンプルに集中させ、主電子ビームによって生成される後方散乱または二次電子を収集するために対物レンズを使用します。これらの電子は検出され、デジタル信号に変換されます。JEOL JSM 6390LVは、2 x 10-4から5 x 10-7 Torrまでの真空チャンバー圧力範囲で動作できます。この圧力範囲により、高解像度と高感度の両方のイメージングが可能です。この顕微鏡の高速画像取得機能により、1秒未満で複数の画像を取得することができます。この顕微鏡は、表面粗さや地形の測定、材料特性の検討、元素組成や分布の解析など、幅広い用途に使用できます。また、サンプル中の粒界、気孔率、欠陥の分析にも使用できます。JSM 6390LVの高解像度イメージング機能により、ナノテクノロジー、材料科学、生物科学の分野での研究に理想的なツールとなります。直感的なユーザーインターフェイスと高度なイメージング機能により、産業環境と学術環境の両方で使用できます。適切なアクセサリにより、JEOL JSM 6390LVは故障解析や欠陥スキャンなどの高速アプリケーションでも使用できます。