中古 JEOL JSM 6360LA #9410470 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM 6360LA
ID: 9410470
ヴィンテージ: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM) Computer Pump Power transformer Operating desk 2010 vintage.
JEOL JSM 6360LAは、幅広い表面材料の高解像度画像を提供するために設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。JSM 6360LAは、電子光学カラムを使用してサンプルに電子を発射し、信号検出器によって反射および検出されます。この技術により、顕微鏡は、信号検出器の解像度だけで制限された、非常に高いディテールでサンプルの画像を生成することができます。JEOL JSM 6360LAの解像度はクラスで高いため、得られるほどディテールが豊富な画像が可能です。これは、高分化電子ビームを生成する低ノイズ、高透過電子光学カラムを含む独自の信号検出システムによるものです。ベースモデルは最低解像度3。2nmですが、JSM 6360LAの最高解像度バージョンは最大0。7nmの解像度を生成できます。JEOL JSM 6360LAは、イメージングサーフェス用の汎用性の高いツールです。高倍率表面画像、元素解析画像(エネルギー分散システムを使用)、二次電子画像など、幅広い画像を作成することができます。また、表面地形画像を生成し、サンプルの表面構造とその元素組成を明らかにすることもできます。さらに、この6360LAは、ナノアンプの10分の1の範囲で、サンプル電流がかなり低く、多くのSEMで一般的な問題である充電のリスクを排除することができます。JSM 6360LAのもう一つの特徴は、画像処理中またはコンピュータプログラムを介して電子ビームを制御および監視する機能です。これにより、イメージング条件を正確に制御することができ、可能な限り最高の解像度を達成するのに役立ちます。さらに、この6360LAは真空下でのin-situ観察にも使用でき、さまざまな分析技術を実行するための幅広い標本ホルダーと互換性があります。最終的に、JEOL JSM 6360LAは、可能な限り最高の解像度で画像表面のための強力なスキャン顕微鏡です。独自の信号検出システムと電子ビームを監視および制御する機能により、汎用性の高いツールとなっています。
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