中古 JEOL JSM 6340F #9364860 を販売中

JEOL JSM 6340Fは、小型で形態学的に複雑な構造の高解像度画像を作成するために使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。0。1ナノメートル程度の小さな特徴まで検出することが可能で、更なる倍率を必要とせずに小さな構造特徴を可視化することができます。電流5ミリアンペア以下の電子ビームを生成できる電界放出電子源を搭載し、高解像度かつ画像安定性を実現しています。さらに、SEMのデジタル真空装置は、コラムに明確な真空を提供し、非常に安定したイメージングプラットフォームをもたらします。JEOL JSM-6340Fは、人工物を使わずに高品質な画像を得るために、光ブロッカーとインカラム・エネルギーフィルターを備えた高度な二次電子検出器を提供しています。ライトブロッカーは、外部光源による画像歪みを低減するのに役立ちますが、コラム内のエネルギーフィルターは最適な電子エネルギー調整を可能にすることでコントラストを高めるために調整することができます。これにより、コントラスト画像が高くなり、特に小さな特徴を識別することができます。さらに、JSM 6340 Fの試料チャンバは、可変圧力（VP）、低真空（LV）、走査透過電子顕微鏡（STEM）モードなど、さまざまな観察モードをサポートしています。VPモードは物体への充電効果を抑制し、LVモードは非導電性サンプルのイメージングを容易にします。STEMについては、顕微鏡の収差補正対物レンズにより、試料組成の定量化が可能です。JEOL JSM 6340 Fは、インコラムイメージングシステムも充実しています。このユニットは、サンプルの位置決めとフォーカシングのためのインカラムデフレクタとスキャンコイル、ならびに安定した試料実装と再現可能なスキャンを可能にする精密スキャンステージを備えています。さらに、内蔵の低ドリフト振動絶縁機により、カメラの揺れによるサンプル画像の断面歪みや傾きを最小限に抑えることができます。JEOL JSM-6340 Fには、正確なアライメントとスキャンモード時の微調整のための自動スイープモードが付属しています。アライメントシステムは、最適なスキャン解像度を得るためにサンプルを正確かつ迅速に調整します。また、一貫した画質と解像度を維持するのに役立つオートフォーカスツールも内蔵されています。結論として、JSM-6340 Fは高度な走査型電子顕微鏡であり、低ドリフトと低ノイズで高解像度の画像を生成することができます。機能を拡張する様々な機能やアクセサリーを備えており、形態学的に複雑な構造をイメージングするのに最適です。