中古 JEOL JSM 6340F #293601758 を販売中

JEOL JSM 6340Fは、幅広いサンプルイメージングおよび解析ニーズに対応した高品質で高性能な設計を特徴とする走査型電子顕微鏡（SEM）です。JEOL JSM-6340Fは、被写界深度が大きく、様々な深さの物体を観察することができます。サンプルは電子の集中ビームで照らされ、サンプル全体をスキャンして3D画像を作成することができます。JSM 6340 Fはオートフォーカスシステム、画像取得システム、高性能電子銃を備えており、材料分析や元素マッピングなど幅広い分析機能を備えています。電子銃は10kVまで動作可能で、元素マッピング、イメージング、ソース解析に使用できます。高度な画像処理システムとデジタル信号処理により、鮮明なディテールと解像度で画像を分析できます。JEOL JSM 6340 Fは柔軟性のために設計されており、さまざまな開口部のさまざまな検出器や検出器を使用することができます。これにより、信号、二次電子、後方散乱電子、または3つすべてを捕捉することができ、補完的な画像が得られます。スコープには、エネルギー効率を維持しながら、最適なパフォーマンスを保証するクライオジェンフリー操作もあります。JEOL JSM-6340 Fは、洗練されたソフトウェア機能と直感的なユーザーインターフェースを提供し、セットアップと操作を容易にします。ソフトウェアには、オペレーショナルプログラムのオンボードライブラリと最適な結果を得るためのパラメータを微調整する機能が含まれています。プログラマブルアノテーションツール、自動エッジ解像度機能、自動ピーク検出および測定アルゴリズムなど、オートメーションおよびデータ分析用に幅広いソフトウェアパッケージが用意されています。JSM-6340Fは、幅広いサンプルサイズに対して信頼性が高く、高性能で汎用性の高いイメージング機能を提供し、信頼性と再現性の高い結果を得ることができます。直感的なユーザーインターフェイスにより、簡単なセットアップと操作が可能で、材料調査、産業分析、その他の多くのアプリケーションに最適です。