中古 JEOL JSM 6335F #293671409 を販売中

JEOL JSM 6335F
製造業者
JEOL
モデル
JSM 6335F
ID: 293671409
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6335Fは、コンパクトな設計と高度なイメージング機能を兼ね備えたデスクトップスキャニング電子顕微鏡(SEM)です。TFEG (thermionic field emission gun)カラムを採用し、高解像度の高画質を実現しています。このSEMは、絶縁から導電性サンプルまで、さまざまな材料に使用できます。2つのカソードと2軸オートフォーカス装置を備えた5チャンネル入力ステージを採用し、高い性能を実現しています。このSEMには、高解像度電子検出器、低ノイズ電源、窒素充填圧力チャンバが搭載されており、画質が向上しています。SEMのデジタルシグナルプロセッサは、信号とランダムノイズのあいまいさを低減し、クリアな画像を提供する強化された画像形成とノイズ低減アルゴリズムを可能にします。JEOL 6335Fには、自動化されたワークフローでプレビュー画像を表示できるデジタルローダーもあります。このソフトウェアには、自動画像回転、コントラスト調整、ミラーイメージング、寸法測定、ライン選択など、さまざまな画像処理機能が含まれています。また、自動化された測定機能を備えており、オペレータは標本のサイズと形状に関する情報を得ることができます。JEOL 6335F SEMは低応力検出システムを採用しており、画像最適化の高度化を実現しています。このユニットはまた、ユーザーが一貫した結果を与えるためにドウェル時間とエネルギーの自動調整を可能にします。サンプルホルダー、ステージ、目的など様々な用途に対応したアクセサリーを取り揃えており、幅広い研究目的に適しています。また、SEMはユーザーフレンドリーなインターフェースで設計されており、情報を簡単に取得できます。全体として、JSM 6335Fは、優れた画質と幅広い機能を提供する信頼性の高い正確な走査型電子顕微鏡です。その信頼性の高い性能、コンパクトなデザイン、ユーザーフレンドリーな機能により、さまざまな材料研究アプリケーションに最適です。
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