中古 JEOL JSM 6335F #293670418 を販売中
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ID: 293670418
ヴィンテージ: 2001
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
2001 vintage.
JEOL JSM 6335Fは、スピードと解像度に優れた高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。従来のSEMと比較して、JSM 6335Fは視野の拡大とイメージング機能の向上を提供します。この装置には、30kVまでのタングステンフィラメントと電圧電位が装備されており、高解像度のイメージングと細部を検出することができます。また、高解像度のモノクロメータと、ノイズを大幅に低減する長距離の境界セグメント画像システムを備えています。さらに、ノイズを低減し、解像度を向上させるフィールド放射砲を装備しています。このマシンは4軸操作ソフトウェアを使用しており、ツールのイメージングおよびナビゲーション機能を直感的かつ正確に制御できます。これには、微細な傾き、ゼロ傾き補正、トラバースナビゲーション、倍率調整、およびその他のさまざまな機能が含まれます。JEOL JSM 6335Fは、上記の機能に加えて、アクセサリーの広い範囲を備えています。高感度検出器(顔検出器、二次検出器、後方散乱検出器)、低真空アセット、環境SEMモデル、光学顕微鏡アタッチメント、デジタルカメラ(赤外線・紫外線機能を含む)、抵抗測定装置、粒子定量システムなどがあります。このユニットは、ステレオイメージングを実行するだけでなく、最大200ミクロンのサンプルを測定することができます。さらに、複数の要素を同時に分析し、さまざまな目的でサンプルの詳細な3Dイメージングを提供します。最後に、JSM 6335Fは、高度なイメージング再構築、地籍マッピング、組織学的表面除去、自動穀物定量化、および自動触覚ナビゲーションなどの拡張ソフトウェアおよびデータ分析機能を提供します。結論として、JEOL JSM 6335Fは、イメージング性能と優れた解像度を提供するように設計された高度な走査型電子顕微鏡です。また、様々なアプリケーションのためのアクセサリーや高度なソフトウェア機能が装備されています。
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