中古 JEOL JSM 6335F #293632500 を販売中

JEOL JSM 6335Fは、最先端の機能を備えた高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）で、実験室の研究者に強力なイメージングと分析機能を提供します。この強力なSEMは非常に汎用性が高く、幅広い標本を研究および分析することができます。JSM 6335Fは、直径約200mm、奥行き200mmの大型ワーキングチャンバーを備えており、大型で複雑なサンプルの研究が可能です。最大200mmまでのサンプルを最大加速電圧30kVで画像化できます。標準的な標本のテーブルは250kgまで保持でき、任意冷たい段階のホールダーおよび冷却段階は低温学の標本を調査するために利用できます。JEOL JSM 6335Fには、10nmまでの高分解能視野を持つSEMレンズ装置も搭載しています。このレンズシステムは、絶大な画像コントラストとシャープネスを提供し、導電性サンプルと非導電性サンプルの両方で小さな特徴の詳細な画像を生成します。また、背面散乱型電子検出器（BSD）を搭載しており、非導電性サンプルを調査する際のコントラスト画像の改善が可能です。JSM 6335F電圧制御およびガンユニットにより、加速電圧、プローブ電流、および輝度を非常に微調整できます。また、高度なエネルギーフィルタリングを備えているため、サンプルの薄い層における組成要素の分析が可能です。JEOL JSM 6335Fには、データ取得、分析、およびストレージを支援する一連のソフトウェアツールが付属しています。このソフトウェアには、標本評価のための卓越したレベルの詳細を可能にする高度なイメージング、検出、および定量化機能が含まれています。取得したすべてのデータは、将来の分析のために保存することができます。JSM 6335Fは、汎用性と強力なSEMを探しているあらゆる研究室や研究施設に最適な機器です。その高度な機能は、高性能のイメージングと分析機能を提供し、最高品質のデータと可能な限り最も正確な結果を可能にします。