中古 JEOL JSM 6335F #293609259 を販売中

JEOL JSM 6335Fは、サンプルのイメージングや表面形状測定に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。コールドフィールドエミッションガン（Cold FEG）を搭載したフィールドエミッションSEM （FE-SEM）で、最適な試料イメージングと充電が可能です。これにより、電子ビーム電流が増加し、解像度が向上し、各種サンプル材料にアクセスする際の柔軟性が向上します。JSM 6335Fは、0。1から0。09までの可変圧力範囲を提供する可変圧力超高真空走査電子カラムを搭載しています。このナビゲーションシステムは、10mmの客観距離で0。05 umの精度で優れたナビゲーション特性を提供します。SEMはさらに、デジタル信号プロセッサ（DSP）制御による自動偏向機能を備えており、複雑で困難なサンプル分析シナリオに対応できます。このSEMは、元素および化学分析、X線イメージングおよびマッピング、電子および光子誘導二次電子イメージング、およびX線エネルギー分散分光法（XEDS）など、いくつかの解析機能を備えて設計されています。さらに、このSEMには、Backscatter Electron Diffraction （BSED）、 HRBE （High Rescuttering Electron）イメージング、Pole Figure Imaging （PFI）、および低電圧Vackscatter Electron （verging）などの分析ツールが搭載されています。JEOL JSM 6335Fは、薄膜構造から乾燥生体試料まで、さまざまな形状・サイズの試料に対応しています。さらに、SEMには、明るいフィールド検出器（BF）、ダークフィールド検出器（DF）、および最大4mmの距離でサンプルを撮影できるLong Working Distance （LWD）検出器が含まれています。JSM 6335F SEMは300 × 300 mmのワーキングチャンバーを備えており、直径180 mmまでのサンプルサイズに対応できます。JEOL JSM 6335Fは、ユーザーに正確で詳細な画像を提供するために構築された信頼性と効率的なSEMです。6335Fの全体的な設計は、柔軟性と優れたイメージング機能を提供し、研究から産業用の設定まで、さまざまなアプリケーションに理想的なSEMとなります。