中古 JEOL JSM 6330F #9288334 を販売中

JEOL JSM 6330Fは、比類のないイメージング機能を提供する高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。この最先端の装置は、二次電子（SE）、後方散乱電子（BSE）、二次電子画像複合材料（SEIC）、および可変収束角度技術を使用して、解像度と画像コントラストを向上させます。他のSEMとは一線を画すJEOL JSM-6330Fの特徴の1つは、スキャンモードが最大20倍から最大解像度1 μ mの広い視野です。これにより、画像の範囲が大幅に拡大され、ユーザーはより大規模で複雑なサンプルの画像を可能な限り詳細にキャプチャすることができます。さらに、JSM 6330 Fにはオートフォーカス検出器が付属しており、ユーザーが介入することなく素早く再検出することで、画像の精度を最大限に高めることができます。JSM-6330Fには、5kVから30kVまでの5つの加速電圧のうちの1つで働くことができる電子カラムがあります。これにより、有機軽材料から大小の金属合金まで、幅広い種類のサンプルを検査することができます。動作電圧を調整することで、サンプル内でより細かくシャープなディテールを識別でき、偶発的な損傷のリスクを最小限に抑えます。この機器は、使いやすいながら、最大限の汎用性を提供するように設計されています。直感的なユーザーインターフェイスと自動サンプルステージを備えたJEOL JSM 6330 Fは、分析とアライメントのためにサンプルを迅速かつ確実に設定し、調整します。また、サンプルに追加の洞察を与えるために、パーティクルカウントなどの機能を自動化しています。JSM 6330Fの他の特徴としては、ラージングポンプ付きの真空システム、サンプルの損傷を防ぐための不可欠なサンプル冷却システム、および信号と背景のノイズ比を向上させるイオン放射検出器があります。JEOL JSM 6330Fは、様々な分野の科学者のための優れた研究ツールです。