中古 JEOL JSM 6330F #9258244 を販売中

JEOL JSM 6330Fは、電子カラム技術を活用した走査型電子顕微鏡（SEM）で、画像解析、元素分析、化学分析、立体表面プロファイリングなど幅広い技術に対応しています。ナノメートルスケールイメージングおよび表面解析用に設計されており、画像解像度は最大1nmです。電子カラムは、2つのガンカラムと別の電子光学カラムを備えた強力な三重フィールド放出源です。これにより、高品質の画像を作成するために必要なビームエネルギーを多様化した高速スキャンと、化学分析および測定が可能になります。SEMは、高解像度CCDカメラとSEM画像をキャプチャするための可変強度検出器を備えています。この顕微鏡には、幅広い分析およびイメージング機能が搭載されています。これらには、試料を構成するさまざまな元素を識別するために使用できる逆散乱電子（BSE）イメージングや、試料の化学組成を検出および測定することができるX線およびエネルギー分散分光法（EDS）分析技術が含まれます。さらに、JEOL JSM-6330Fにはコンピュータ制御のステージシステムが搭載されており、画像処理中に試験片を正確に自動的かつ手動で移動させることができます。このソフトウェアには、パラメータ設定、画像取得、解析のための自動機能、および画像のコントラストと明るさの自動調整も含まれています。この顕微鏡には高度な3Dモデルビルディング機能も搭載されており、標本の詳細な3Dモデルを作成するために使用することができます。モデル構築ソフトウェアは、高解像度の3Dモデルをすばやく作成するためのインターフェイスをユーザーに提供します。その後、3Dモデルを使用して試料を視覚化するだけでなく、さらなる分析にも使用できます。JSM 6330 F SEMは、ナノメートルスケールの特徴を画像化し、解析するための強力なツールです。高度な画像処理や3Dモデリング機能など、幅広いイメージングおよび分析機能を備えており、ナノスケール材料を研究する研究者にとって理想的なツールとなっています。