中古 JEOL JSM 6330F #9164163 を販売中

JEOL JSM 6330Fは、50ナノメートルの解像度まで様々な表面の高解像度画像を得ることができる走査型電子顕微鏡（SEM）です。この電子ビームイメージングシステムには、10ビット（1024強度レベル）のコントラストを持つ超高分解能の二次電子検出器が搭載されており、サンプル全体の微細な特徴を詳細に分析することができます。この装置は、オリエンテーションイメージング顕微鏡（OIM）、カソー光学顕微鏡（COM）、さらにフーリエ変換イメージング（EFTEM）など、幅広い分析技術が可能です。JEOL JSM-6330Fは、20m3/hrのポンプ速度を備えた最先端の真空システムを搭載しています。この真空システムは、10〜6 mbar〜10〜2 mbarの圧力範囲を提供し、二次電子検出器と低エネルギー電子の動作に適した条件を保証します。JSM 6330 Fは650°Cまで温度に達することができる任意発熱体を使用してサンプル表面（冷たい段階かthermospray付属品）を熱しないで作動させることができます。JSM 6330Fは、さまざまな分析技術でプログラムすることができます。エネルギー分散X線分光法（EDX）は、元素マッピング、粒子イメージング、深度プロファイリングなど、さまざまな分析機能を提供します。PIXE （Particle Induced X-ray Emission）機能は、高い空間分解能と感度でサンプルの非破壊元素分析を可能にします。JSM-6330Fの二次電子顕微鏡（SEM）モードは、特にリガンド処理された構造や分子のイメージングに適しています。その自動スティグメータ機能は、非常に低い画像収差を提供し、ナノメートルレベルまでの機能の検出を可能にします。エネルギーフィルターイメージングモードにより、50nmの解像度で結晶構造などの微細な表面特徴を解析することができます。JEOL JSM 6330 Fは、従来の走査型電子顕微鏡（SEM）における電子爆撃によって損傷する可能性のある非導電性サンプルのイメージングを可変圧力モード（VP）で動作させることもできます。VPモードは、10-1 mbarの大気まで実行でき、10nmの解像度でも非導電性サンプルを観察できるユニークなイメージング環境を提供します。最後に、JEOL JSM 6330Fには高度な画像処理スイートが装備されており、サンプル分析オプションが強化されています。画像処理ソフトウェアは、自動画像解析、定量画像解析、3D再構築などの自動解析を可能にします。また、高速な再構築速度でサンプルをインタラクティブに解析することもできます。全体として、JEOL JSM-6330Fは非常に強力で汎用性の高いSEMであり、さまざまな分析機能を備えた非常に高い解像度で高品質の画像を生成することができます。最先端の真空、加熱、画像処理システムにより、機器から最大限の要求を受ける研究者に最適な顕微鏡となっています。