中古 JEOL JSM 6330F #9071903 を販売中

JEOL JSM 6330F
製造業者
JEOL
モデル
JSM 6330F
ID: 9071903
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6330F走査型電子顕微鏡(SEM)は、幅広い対象物の詳細な解析を行うための汎用性の高いツールです。パワフルな多機能イメージングシステムは、さまざまなサンプルタイプに優れた解像度と高コントラストを提供します。そのコンパクトなサイズと軽量なデザインは、あらゆるサイズの研究所に人気があります。JEOL JSM-6330Fは、背面散乱電子イメージング、二次電子イメージング、BSEカラーコンポジットイメージング、STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy)などのイメージング技術を提供しています。また、可変焦点、専用の二次電子検出器、および効果的なインカラムエネルギーフィルタも含まれています。高出力インバータを使用すると、顕微鏡は15倍から20万倍以上の広範囲の拡大を動作させることができます。6軸電動サンプルホルダーにより、JSM 6330 Fは幅広いサンプルタイプに対応し、正確な自動サンプル作成とスキャンを提供します。イメージング機能に加えて、EDS (Energy Dispersive Spectroscopy)、 WDS (Wavelength Dispersive Spectroscopy)、 EDX (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy)などの高度な解析を可能にする3つの高度な解析システムもJSM-6330Fを備えています。これらのシステムは、任意のサンプルの元素または組成分析を可能にします。JEOL JSM 6330 Fは、優れたイメージング品質とさまざまな高度な分析機能を提供します。堅牢なスキャンおよびイメージング機能により、高解像度の画像と高精度の分析結果を得ることができます。これは、信頼性と汎用性の高いSEMを必要とするさまざまな分野の研究者や科学者にとって理想的なツールです。
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