中古 JEOL JSM 6330F #293664772 を販売中

JEOL JSM 6330Fは、ナノメートル分解能、0。1〜2。0 keVのエネルギー分解能、0。14 nmの解像度を持つ低閾値検出機能などのハイエンド機能を提供する高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。これにより、ナノメートルスケールでの構造の特性評価が可能になり、非常に薄い標本の信頼性の高いイメージングが可能になります。JEOL JSM-6330Fは、厚さ200nmまでのサンプルの高解像度イメージングを提供し、最小フィーチャーサイズは0。5 nmです。この高感度は、Everhart-Thornleyと可変圧力モードの組み込みによってさらにサポートされています。SEMには、後方散乱電子検出器や二次電子検出器などのさまざまな検出器が搭載されており、非常に小さな領域内の地形情報や組成情報を観察することができます。これは、光顕微鏡で見るにはあまりにも小さいオブジェクトの比類のない詳細を可能にします。JSM 6330 Fはまた、高感度のX線元素マップの取得を可能にし、サンプル内に含まれる様々な元素の定量化を可能にします。さらに、マイクロアナリシス・システムには波長分散分光装置が含まれており、30 μ mまでのサンプルの元素組成を正確に決定します。優れた性能を発揮するため、ステージドリフトと振動を最小限に抑え、正確な動作を確保するために設計された超安定性機械カラムを採用しています。統合されたデジタルイメージングシステムは、SEMの全体的な信頼性をさらに高め、材料の分析と画像キャプチャと保存をサポートします。最後に、JEOL JSM 6330 Fには、あらかじめプログラムされた設定とオートメーション機能を提供することで、操作を容易にするように設計されたユーザーフレンドリーなソフトウェアが含まれています。これにより、効率的なワークフローが可能になり、1つのプロセス内で迅速なサンプル作成と分析が可能になります。要するに、JSM 6330Fは例外的な走査型電子顕微鏡であり、画像やデータを取得する際の性能と信頼性を大幅に向上させます。これにより、基本的な科学的研究から産業環境における材料分析まで、さまざまな用途に最適です。