中古 JEOL JSM 6320F #9210344 を販売中

JEOL JSM 6320Fは、材料分析用の走査型電子顕微鏡（SEM）です。マイクロイメージングおよびマイクロアナリティクスシステムは、サブミクロンからマクロ機能までを分析する業界標準のシステムです。細孔や粒界などの微細なサンプルの特徴を最大0。06nmの分解能で可視化し、統計画像、分析情報、3Dモデリングを提供します。JSM 6320Fには、電子光学と高度な検出器が搭載されており、ユーザーは最大の分析性能を達成することができます。6320Fのイメージング機能を使用して、粒度と向き、表面粗さ、顕微鏡、およびより多くのアプリケーションを分析することができます。JEOL JSM 6320Fは、環状視野SEMイメージングにより、広い視野深度、高解像度画像、高分解能視野の組み合わせを提供します。6320Fの分析機能には、エネルギー分散型X線分光法（EDS）があり、これによりサンプルの元素組成を分析することができます。また、JSM 6320Fの高真空・低電圧電子環境は、サンプルの高品質な画像を大量のサンプル調製を必要とせずに提供します。JEOL JSM 6320Fは、冶金、自動車、エレクトロニクス、食品などの幅広い産業に適しています。この6320Fは、Windows XPおよびWindows Vistaオペレーティングシステムでサポートされている簡単な操作をユーザーに提供します。6320Fは最大2つのサンプルと5つの検出器を備えており、幅広い種類のサンプルを分析することができます。要約すると、JSM 6320Fは、材料分析に使用される業界標準の走査型電子顕微鏡です。最大0。06nmの解像度でサンプルの微細な特徴を可視化し、統計画像、分析情報、3Dモデリングを提供します。この6320Fは、ユーザーに簡単な操作と広範囲のサンプルタイプを分析する能力を提供します。この顕微鏡は幅広い業界に適しており、材料分析のための強力なツールとなっています。