中古 JEOL JSM 6320F #9210319 を販売中

JEOL JSM 6320Fは、先進的な電子光学系を用いた高性能スキャニング電子顕微鏡（SEM）です。細部まで見事な高解像度画像を作り出すことができます。6320Fは、最大54 µmの視野と4。1 nmのHD解像度で優れたイメージングを提供します。電子ビームは20極の単極磁石によって加速され、電流と空間分解能を高め、高コントラストで明瞭な詳細な画像を得るのに役立ちます。また、6320Fには様々な試料ホルダーやステージが装備されており、様々な試料の種類やサイズを扱うように設計されています。直径200mmまで、高さ120mmまでのサンプルに対応可能です。ステージ調整範囲はX方向とY方向で最大40mmで、人間工学に基づいた簡単なサンプル表示が可能です。SEMには、試料を最大限に活用できるように設計されたデュアルディテクタ装置も装備されています。2次電子（SE）検出器があり、サンプルから散乱している電子を検出して明るい場のイメージングを行います。これにより、サンプル上のさまざまな材料を識別するだけでなく、さまざまな材料からのコントラストを検出することができます。さらに、背面散乱電子（BSE）検出器は、標本の表面を分析するために、大きな高コントラスト画像を捕捉することを目的としています。その高度な電子光学のために、6320Fは最大10,000倍の解像度でイメージングすることができます。また、サンプル雰囲気と環境条件のための表面制御と外部ドア制御システムの両方が装備されています。外側のドアコントロールシステムは、空気条件の変化を最小限に抑えるように設計されています。一方、サンプルコントロールユニットは、サンプルの電子放射率の均一性を維持し、優れた画像透明性を実現します。JSM 6320Fは、驚くべきイメージングの可能性を提供する真に画期的なSEMです。そのデュアル電子検出器マシン、高度な光学設計と人間工学に基づいた試験片の段階で、それは原子とナノスケールでのイメージングに最適な機器です。高解像度の画像と材料の正確な表現は、研究、メーカー、業界にとって不可欠なツールです。