中古 JEOL JSM 6320F #9144812 を販売中

JEOL JSM 6320Fは、パワフルで汎用性の高い走査型電子顕微鏡（SEM）で、様々な測定や画像技術が可能です。JSM 6320Fは最大加速電圧30kVの電子カラムを利用しており、生体試料から半導体まで幅広い研究に最適です。このコラムにはインレンズ二次電子検出器が装備されており、試料の高性能イメージングを提供します。二次電子検出器は、ピット、粒子、電子ビームなどの表面の特徴を区別して強調表示することができます。列内Everhighチャンバーは、チャンバーの迅速な避難とその後の画像の解像度の向上のために可能な限り最高の真空レベルを提供します。膨脹可能なドアベローズシステムはまた部屋内の最適圧力レベルを保障するのに使用されています。SEMのHi-brightシステムは、最大3つのオブジェクトに対して同時に高輝度の照明を提供し、シンチレータベースの反射防止スクリーンを使用して、画像取得における背景ノイズの量を低減します。明るい/暗いフィールドイメージングを同時に使用して、微細な表面フィーチャーを最適に視覚化することもできます。この機器は、さまざまな低電圧イメージング（LVI）モードを作成することもできます。LVIイメージングは、低電圧でビーム損傷を最小限に抑えた有機試料のイメージングに最適です。この技術により、コントラストと解像度を向上させ、通常の二次電子イメージングでは見えない情報を得ることができます。この顕微鏡は、エネルギー分散分光法（EDS）など、試料中の材料をin-situで組成解析するための様々な特殊な測定技術が可能です。この技術は、材料の特性評価と識別に不可欠です。JEOL JSM 6320Fは、最適なイメージング条件のための試験片の正確な位置決めが可能な自動ステージもサポートしています。ステージ設定は、360度の回転、傾斜表示および断面イメージングの設定など、SEMビューを連動させるために簡単に操作できます。結論として、JSM 6320Fは強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡であり、さまざまなイメージングおよび測定技術が可能です。それは優秀な真空および照明システムです適用の範囲に例外的な性能を提供します。