中古 JEOL JSM 6300V #9098216 を販売中

JEOL JSM 6300Vは、高性能二次電子走査型電子顕微鏡（SEM）です。この機器に組み込まれた高度な技術は、利用可能な最も信頼性の高い強力なSEMの1つになります。高品質のイメージング機能と幅広い分析機能により、さまざまなアプリケーションのニーズに最適です。JSM 6300Vは、最新の電子光学系を組み込み、微細構造の優れたイメージングを提供します。高解像度の銃と対物レンズシステムを使用して、解像度を最大化し、収差を最小限に抑えます。その高解像度は、薄膜やナノスケール構造などの細部の優れたイメージングを提供します。また、JEOL JSM 6300Vは、0。5nmの深度と深度の解像度を向上させ、非常に精密なディテールを可能にします。JSM 6300Vには、分析機能を強化するために設計されたさまざまなアクセサリも装備されています。エネルギー分散X線検出器（EDX）、陰極発光検出器（CL）、電子後方散乱検出器（EBSD）、高エネルギー回折（HED）システムなど、幅広い検出器があります。これにより、SEMを強力な分析機器として使用することができ、組成イメージングや粒界解析などの研究が可能になります。JEOL JSM 6300Vは、イメージングおよび分析機能に加えて、優れた柔軟性と使いやすさを備えています。その豊富なソフトウェアパッケージは、パターン認識や解析など、多くのタスクを強力に自動化します。また、顕微鏡の操作を簡素化するために、試験片のローディングの高度な自動化を提供しています。全体として、JSM 6300Vは、さまざまな材料分析アプリケーションに最適です。強力なイメージング機能と高度な解析機能を兼ね備えているため、電子顕微鏡のスキャン用途には必須です。JEOL JSM 6300Vは、柔軟性、精度、信頼性に優れており、幅広い材料研究および分析におけるさまざまなアプリケーションに最適です。