中古 JEOL JSM 6300F #9224609 を販売中
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JEOL JSM 6300Fは、幅広い機能を備えた走査型電子顕微鏡（SEM）です。さまざまなモードやインタラクティブ機能を通じて、さまざまなサイズや形状の材料を分析するために使用することができます。この顕微鏡は、より高い解像度と超高真空（UHV）性能を提供します。JSM 6300Fには、コールドフィールドエミッションガン型の熱放射電圧が1。2kV、ホットフィールドエミッションガン型の熱放射電圧が1。3kVのフィールドエミッションガン（FEG）が搭載されています。また、この顕微鏡はツインxy傾斜およびスキャンステージを備えており、高速で効率的な画像取得を可能にします。真空チャンバーには統合された自動レベリングシステムが装備されており、サンプルは引き込み式サンプルホルダーに配置されています。JEOL JSM 6300Fは、従来のSEM、高真空（HV） SE、低電圧SE、逆散電子（BSE）イメージングなど、さまざまな検出モードを提供しています。また、EDS、 X線マップ、イオンミリング、水浸イメージング、平均化、ノイズ除去、光学補正などの統合された画像処理機能など、あらゆる視覚化および分析機能を提供します。顕微鏡は、WindowsとMacの両方のオペレーティングシステムと互換性があり、ユーザーがデータを完全に制御できるバンドルされたソフトウェアが付属しています。JSM 6300Fには引き込み式のLive SEMワーキングチャンバーも装備されており、ユーザーは乾燥実験と現場実験の両方を行うことができます。全体として、JEOL JSM 6300Fは、イメージングおよび分析機能において解像度と精度を向上させます。直感的な操作性を誇り、ユーザーはSEM実験を迅速かつ効率的に行うことができます。JSM 6300Fは、包括的なデータ操作ツール、高解像度イメージング、多彩なオペレーティングシステムの互換性を通じて、幅広い研究および教育用途に理想的な走査型電子顕微鏡です。
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