中古 JEOL JSM 6300F #116159 を販売中

JEOL JSM 6300Fは、サブナノメートル解像度での高性能イメージング用に設計された先進走査型電子顕微鏡（SEM）です。Scanning Electron Microscopy （SEM）およびTransmission Electron Microscopy （TEM）アプリケーションの両方に対応する超高解像度を備えています。JSM 6300Fの堅牢で汎用性の高い設計により、高スループット、低コスト、高精度の高速イメージングが可能です。JEOL JSM 6300Fには、超高解像度の電界放射銃（FEG）、大きな極を持つ大容量のチャンバー、および高性能の電子光学システムが装備されています。ビーム電流と作動距離のオプションが豊富に用意されているため、ユーザーは目的のイメージング目標をターゲットにすることができます。この顕微鏡には、EDAX （Energy Dispersive Analysis X-ray）、自動ナビゲーションとアライメント、サンプル調製のための自動ステージ、統合イメージング用のマルチビーム検出システムなどの高度な機能も含まれています。大きなチャンバーと改良されたポールピースにより、JSM 6300Fはより大きな被写界深度を達成し、歪みの少ない高分解能を実現します。ナノ粒子だけでなく、生きている細胞、非生物材料、柔らかい材料、硬い材料など、さまざまなサンプルをイメージングすることができます。サンプル操作と自動アライメント機能により、非常に低い倍率でも簡単かつ正確なイメージングが可能です。JEOL JSM 6300Fは、イメージング、解析、自動化において柔軟性と最高のパフォーマンスを提供します。その高いスループットと高い解像度を達成する能力は、小さな構造をイメージし、その材料組成を分析する研究者にとって実行可能な選択肢となります。統合された電子光学システムにより、ユーザーはビーム電流、角度、作業距離を調整して目的の画像の解像度を最大限に高め、細かいディテールや微細構造を観察することができます。自動化された機能、分析機能、およびサンプル操作オプションの範囲は、このSEMをさまざまな研究アプリケーションにとって魅力的な選択肢としています。