中古 JEOL JSM 6300 #9314149 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM 6300
ID: 9314149
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 1.5 nm @ 30 kV Maximum chamber / Sample size: 5" Sample size X x Y: 50 x 70 mm Manual stage.
JEOL JSM 6300は、高分解能イメージングおよび解析用途向けに設計された高度な走査型電子顕微鏡(SEM)です。従来の光学顕微鏡と比較して、優れた画質と空間分解能を提供することができます。JEOL JSM-6300は、ピクセルサイズが25。4 μ mの大型17。0 cm x 11。5 cmの二次電子検出器と、ピクセルサイズが9。2 μ mの4。2 cm x 4。2 cmの後方散乱電子検出器を備えています。このシステムは、低騒音のUHVサンプルホルダーを備えた超高真空(UHV)ステージを備えており、汚染のない乾燥サンプルと湿ったサンプルの両方を画像化および分析することができます。さらに、大きな被写界深度の画像を生成することが可能で、ユーザーは大きな表面積の詳細な画像を得ることができます。JSM 6300は、イメージングおよび解析機能に加えて、電子線分散X線分光法(WDS)などの様々な種類の分光法も備えています。電子線分光法は、試料から放出される特定のX線のエネルギーを測定することにより、元素分析に使用されます。WDSは、元素組成と分布の両方を測定するために複数のX線線を使用して測定することにより、表面分析に使用されます。JSM-6300には、超低バックグラウンドノイズと拡張動作パラメータを提供するように設計された低電圧電子銃である必要な電子銃も含まれています。これにより、大きな表面積に対して均一性に優れた高コントラスト画像を得ることができます。JEOL JSM 6300は強力な走査型電子顕微鏡で、優れた画質、解像度、解析機能を提供します。半導体や材料科学の研究、冶金学や故障解析、ライフサイエンスなど、さまざまな用途に適しています。
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