中古 JEOL JSM 6300 #9234610 を販売中
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ID: 9234610
Scanning Electron Microscope (SEM)
PC Controlled
Voltage: 0.2 kV - 30 kV
Magnification: 10 x - 300,000 x
Detectors: SE, BSE
Resolution: 3.5 nm (at 30 kV)
Option: EDX.
JEOL JSM 6300は、金属、セラミックス、ポリマー、半導体、複合材料などの様々なサンプルのイメージングおよび分析用に特別に設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、0。5nmという最小の機能サイズで、非常に小さなサンプル機能のための高解像度イメージング機能を提供します。JEOL JSM-6300のデザインは、様々なサンプルサイズのサンプリングとイメージングのための高度な高解像度デジタルイメージングプログラムを備えています。二次電子イメージング(SEI)と後方散乱電子イメージング(BSEI)の2つの異なる動作モードを組み合わせてイメージング機能を強化します。SEIは表面地形の検査や分析に適していますが、BSEIはサンプル組成や材料形態の詳細な情報を得るのに最適です。JSM 6300は、汎用性の高い操作機能と直感的なユーザーインターフェースを備えたコンパクトなデザインです。その高度なステージデザインは、x、 y、 z軸の運動範囲だけでなく、視野の広い範囲を探索することができます。さらに、JSM-6300は、効率的なサンプル操作のために最大2つの4インチサンプルホルダーを収容できる大型試料室を備えています。JEOL JSM 6300は、エネルギー分散型X線 (EDX)スペクトル要素解析、電子逆散乱回折(EBSD)解析、位相マッピングなどの分析機能も備えています。これは、詳細かつ正確な画像を取得するためのイメージングパラメータをカスタマイズするための最適なユーザーコントロールを持っています。JEOL JSM-6300は、優れた感度、安定性、柔軟性を備えており、研究環境と製造環境の両方でさまざまな用途に適しています。その多目的な機能と機能により、多くのイメージングおよび分析ジョブに適しており、産業、科学、学術分野の多くのユーザーのニーズを満たしています。
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